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本試驗(yàn)設(shè)備模擬由陽(yáng)光、雨水、露水引起的破壞，通過(guò)將被測(cè)材料暴露于受控高溫下光照與水份的交變循環(huán)中，對(duì)材料進(jìn)行測(cè)試。
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低溫試驗(yàn)箱主要是針對(duì)于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。
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