《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 術(shù)語》
1.通用術(shù)語
1.1試驗
一項完整的環(huán)境試驗操作順序，通常包括：
a.預處理（必要時）；
b.初始檢測（必要時）；
c.條件試驗；
d.恢復；
e.zui后檢測。
注：在條件試驗和（或）恢復期間可能要求中間檢測。

1.2預處理
為消除或部分抵消試驗樣品以前經(jīng)歷的各種效應，在條件試驗前對試驗樣品所做的處理。
1.3初始檢測
在預處理之后，條件試驗之前對試驗樣品的電性能、機械性能和外觀進行的檢查和測量。
1.4條件試驗
把試驗樣品暴露到試驗環(huán)境中，以確定這種環(huán)境條件對試驗樣品的影響。
1.5恢復
在條件試驗之后，zui后檢測之前為使試驗樣品的性能穩(wěn)定所做的處理。
1.6zui后檢測
在恢復之后對試驗樣品的電氣性能、機械性能和外觀所進行的檢測和測量。
1.7試驗樣品
要進行環(huán)境試驗的產(chǎn)品的樣本，包括使該產(chǎn)品功能完整的任何輔助部件和系統(tǒng)，如致冷、加熱和機械減震器（隔震器）等。
1.8相關(guān)規(guī)范
產(chǎn)品或材料要滿足的一組技術(shù)要求及用來判定這些要求是否被滿足的檢測的方法。
1.9嚴酷等級
試驗樣品進行條件試驗所用的一組參數(shù)值。
1.10綜合試驗
兩種或多種試驗環(huán)境同時作用于試驗樣品的試驗。
1.11組合試驗
把試驗樣品依次連續(xù)暴露到兩種或多種試驗環(huán)境中的試驗。
注：①各次暴露之間的時間時隔可能對試驗樣品有顯著影響，應準確地予以規(guī)定。
②各次暴露之間一般不進行預處理、恢復和穩(wěn)定。
③檢測工作通常在*次暴露前和zui后暴露結(jié)束后進行。

1.12試驗順序
試驗樣品被依次暴露到兩種或兩種以上試驗環(huán)境中的順序。
注：①各次暴露之間的時間間隔通常對試驗樣品不產(chǎn)生明顯影響。
②各次暴露之間通常要進行預處理和恢復。
③通常在每次暴露之前和之后進行檢測，前一項暴露的zui后檢測就是下一項暴露的初始檢測。

1.13基準大氣
溫度為20℃、氣壓為101.3kPa的大氣。

1.14仲裁測量
在推薦的周圍大氣條件范圍內(nèi)測量未能獲得令人滿意的結(jié)果且未知把大氣條件的敏感參數(shù)調(diào)整到標準基準大氣參數(shù)值的校正系數(shù)時，在精密控制的大氣條件下所進行的重復測量。