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3936 掃描電遷移率粒徑分布譜儀

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產(chǎn)品型號(hào)TSI 3936

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更新時(shí)間：2024-11-25 11:14:22瀏覽次數(shù)：70次

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

產(chǎn)品詳情T(mén)SI的3936掃描電遷移率粒徑分布譜儀是一種高分辨率納米粒子粒徑分析儀，長(zhǎng)期以來(lái)一直被譽(yù)為是進(jìn)行包括納米研發(fā)在內(nèi)的納米應(yīng)用納米粒徑表征的研究人員之選擇

詳細(xì)介紹

產(chǎn)品詳情

TSI 的 3936 掃描電遷移率粒徑分布譜儀是一種高分辨率納米粒子粒徑分析儀，長(zhǎng)期以來(lái)一直被譽(yù)為是進(jìn)行包括納米研發(fā)在內(nèi)的納米應(yīng)用納米粒徑表征的研究人員之選擇。

TSI 的 SMPS™ 粒徑譜儀廣泛用作檢測(cè)空氣懸浮粒子粒徑分布的標(biāo)準(zhǔn)方法。這些粒徑譜儀也經(jīng)常用于對(duì)液體中懸浮的粒子進(jìn)行精確的納米粒徑檢測(cè)。.美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究所 (NIST) 采用 TSI DMA 對(duì)液體中懸浮的 60nm 和 100nm 標(biāo)準(zhǔn)參考物質(zhì)進(jìn)行分粒（聚苯乙烯乳膠球或 PSL 球）。

SMPS™ 粒徑譜儀粒徑檢測(cè)技術(shù)是一種謹(jǐn)慎的技術(shù)，它可直接檢測(cè)粒子濃度，而無(wú)需假定粒子尺寸分布形狀。這種方法獨(dú)立于粒子或流體的折射率，具有高度的尺寸精度和檢測(cè)可重復(fù)性。TSI 3936 掃描電遷移率粒徑分布譜儀 (SMPS) 深受科研人員的信賴，已提供了三十多年的高質(zhì)量數(shù)據(jù)。