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Hi-Q光學(xué)測試測量系統(tǒng)

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產(chǎn)品簡介

美國OEwaves公司的HI-Q光學(xué)測試測量系統(tǒng)提供了自動(dòng)化地測量連續(xù)激光器或激光光源的超低相位噪聲測量

詳細(xì)介紹

美國OEwaves公司的HI-Q光學(xué)測試測量系統(tǒng)提供了自動(dòng)化地測量連續(xù)激光器或激光光源的超低相位噪聲測量。這個(gè)光學(xué)測試測量系統(tǒng)能夠快速地測量激光相位噪聲，評(píng)估其線寬的半高寬度低至< 3 Hz,而無需復(fù)雜的測試架構(gòu)和參考激光即可作這樣的窄線寬測量。

該系統(tǒng)在寬帶測量方面是無二的，它不要求另外的低噪聲參考激光光源。該系統(tǒng)操作簡單、方便、快速、精度高，且無需附加額外的測試設(shè)備。這臺(tái)無二的超低相位/頻率噪聲分析儀可擴(kuò)展到不同的輸入波段，并用于低相對(duì)強(qiáng)度噪聲測量。

特點(diǎn)：

▪ 超低相位/頻率噪聲測量

▪ 快速實(shí)時(shí)測量

▪ 即刻和擴(kuò)展的FWHM線寬分析

▪ 不需要低噪聲參考光源

▪ 用戶友好界面

▪ 簡單的基于PC的操作

▪ 3U x 19英寸機(jī)架系統(tǒng)

▪ 可定制的配置、升級(jí)和選項(xiàng)

光學(xué)測試測量系統(tǒng)
型號(hào)	OE4000
波長	1530 – 1565 nm
動(dòng)力學(xué)范圍	60dB
光學(xué)輸入功率范圍	+5 to +15 dBm (PM-FC/APC)
測量類型	頻率噪聲/零差相位
數(shù)據(jù)存儲(chǔ)與I/O	HDD / USB端口
帶寬分辨率	0.1 Hz – 200 kHz
電源電壓	110 / 120 or 220 / 240 Vac ; 50 / 60Hz
光學(xué)測試測量系統(tǒng)尺寸	3U x 19英寸機(jī)架式
低或高輸入功率范圍	可選
波長范圍(可選)	740 – 935 / 965 – 1065 / 1000 – 1100 / 1260 – 1360 / 1530 – 1625 / 1950 – 2150 (nm) (選擇多波長范圍以及定制波長范圍請(qǐng)咨詢)