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上海納騰儀器有限公司
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產(chǎn)品型號VertiSense
品 牌
廠商性質代理商
所 在 地上海市
聯(lián)系方式：王晟查看聯(lián)系方式
更新時間：2022-08-03 14:06:49瀏覽次數(shù)：832次
聯(lián)系我時，請告知來自 環(huán)保在線Thermal probe system熱掃描探針系統(tǒng)，聯(lián)用AFM顯微鏡，既能實現(xiàn)AFM探針常規(guī)輕敲和接觸掃描，獲得高清晰度的圖像，同時能夠實現(xiàn)樣品熱學性質的探測。尤其適用于高分子材料組分熱學性質評估。
Thermal probe system熱掃描探針系統(tǒng)，聯(lián)用AFM顯微鏡，既能實現(xiàn)AFM探針常規(guī)輕敲和接觸掃描，獲得高清晰度的圖像，同時能夠實現(xiàn)樣品熱學性質的探測。尤其適用于高分子材料組分熱學性質評估。
模塊性能：
可以同時實現(xiàn)樣品表面形貌掃描和材料相關熱學性能測試
1） 溫度；
2） 溫度梯度變化曲線；
3） 定性熱導率；
4） 相變溫度；
5） 定性熱容量；
模塊優(yōu)勢：
1）高性價比，能實現(xiàn)熱學掃描及熱學性質測試的功能，價格僅為其為同類產(chǎn)品的一半；
2）精細測量，能達到20nm區(qū)域測溫；
3）耐高溫，針尖在700℃高溫下也不易變形；
模塊掃描機制：
應用領域：
Thermal Probe system適用于太陽能電池、有機發(fā)光材料研究、發(fā)光器件以及其它對高分子熱學性質探測、高分子組分特點研究等各個領域。
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