大多數(shù)概率測(cè)試都是破壞性的，這意味著樣品不能重復(fù)使用，從而產(chǎn)生大量的產(chǎn)品損失、浪費(fèi)和混亂。概率方法也是定性的，產(chǎn)生的結(jié)果取決于技術(shù)、樣品制備和操作員的可變性，這使得它們既耗時(shí)又不可靠。因?yàn)榇蠖鄶?shù)確定性測(cè)試可以是非破壞性的，它們可以隨著時(shí)間的推移重復(fù)進(jìn)行，以提供樣品泄漏率的定量測(cè)量，因?yàn)樗鼈儾粫?huì)使容器內(nèi)通常昂貴的產(chǎn)品無(wú)法使用。它們也較少受人為錯(cuò)誤的影響，因?yàn)樗鼈兪褂媒?jīng)過(guò)驗(yàn)證的測(cè)試設(shè)備來(lái)獲得客觀的泄漏測(cè)量值。
新 USP 指南的發(fā)布表明了對(duì)確定性、非破壞性方法的明顯偏好。確定性測(cè)試是真空衰減、壓力衰減、基于激光的頂空分析、HVLD 和示蹤氣體分析。
隨著仿制藥醫(yī)學(xué)指令 (FMD)的生效，實(shí)現(xiàn)序列化的要求進(jìn)一步推動(dòng)了采用確定性方法。投資于跟蹤和追溯系統(tǒng)的制藥公司希望能夠確定批次中的單個(gè)包裝是否經(jīng)過(guò)泄漏測(cè)試，以便在召回時(shí)可以獲得這些數(shù)據(jù)。
今天針對(duì)以上常用的真空衰減法測(cè)試儀MLT-V100我們來(lái)做個(gè)簡(jiǎn)單的介紹！
MLT-V100(T) 微泄漏無(wú)損密封測(cè)試儀采用真空無(wú)損測(cè)試方案，擴(kuò)展為正負(fù)壓雙測(cè)量法，雙傳感器、雙腔測(cè)試技術(shù)，基于WINDOWS系統(tǒng)開發(fā)，可適用于各種空的/預(yù)充式注射器，水針及粉針瓶(玻璃/塑料)、灌裝壓蓋瓶、以及其他硬質(zhì)包裝容器、電器元件等試樣的無(wú)損正、負(fù)壓的微泄漏測(cè)試。
負(fù)壓法測(cè)試：
連接真空泵提供氣源動(dòng)力，制造標(biāo)準(zhǔn)腔和測(cè)試腔同等壓力環(huán)境，通過(guò)檢測(cè)測(cè)試腔在負(fù)壓環(huán)境下的壓力變化，判斷試樣的泄漏特性。
正壓法測(cè)試：
連接壓縮空寂提供氣源動(dòng)力，制造標(biāo)準(zhǔn)腔和測(cè)試腔同等壓力環(huán)境，通過(guò)檢測(cè)測(cè)試腔在正壓環(huán)境下的壓力變化，判斷試樣的泄漏特性。
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