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Lumis EBSD 檢測(cè)器

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產(chǎn)品型號(hào)Thermo Scientific

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更新時(shí)間：2023-04-02 17:09:22瀏覽次數(shù)：186次

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產(chǎn)品簡介

該技術(shù)可快速鑒定晶體物相、晶粒尺寸和取向，以及結(jié)構(gòu)轉(zhuǎn)變。對(duì)掃描電子顯微鏡 (SEM) 樣品使用 EBSD 技術(shù)可以限度提高通量和分辨率。Thermo Scientific Lumis EBSD 檢測(cè)器結(jié)合了新的 CMOS 傳感器技術(shù)和*的光學(xué)元件，并借助 Thermo Scientific Pathfinder 2.0 微量分析軟件進(jìn)行操控，該軟件融入了包含新索引算法的電子背散射花樣(EBS......

詳細(xì)介紹

Lumis EBSD 探測(cè)器采用了較*的 CMOS 傳感器技術(shù)，配有高級(jí)光學(xué)元件，使用加速索引算法，和低至 10 pA 及更低的束流來分析電子背散射花樣 (EBSP) 。

該探測(cè)器采用 > 220 萬像素模式采集，非常適合 HR-EBSD 應(yīng)變測(cè)量和用于相鑒別。

使用光學(xué)和傳感器組合，可優(yōu)化探測(cè)器從而以每秒數(shù)千幀的速度進(jìn)行高速 EBSD，以縮短采集時(shí)間并提高樣品處理量。高級(jí)光學(xué)元件和較高的傳感器靈敏度允許在低于 10 pA 的超低束流下采集 EBSP。這對(duì)于電子束敏感和劑量受限材料或者在較高的束流可能導(dǎo)致污染或漂移的情況下尤其重要。

一種大規(guī)格 CMOS 傳感器和一個(gè)反向變焦光學(xué)元件，以補(bǔ)充和擴(kuò)展內(nèi)置 CMOS 傳感器組合。高效、八邊形閃爍器將背散射電子轉(zhuǎn)換為光，通過高質(zhì)量的反向變焦光學(xué)元器件聚焦到傳感器的用戶控制區(qū)域。這允許連續(xù)選擇“合并"EBSP 大小，并為 EBSP 速度、質(zhì)量和靈敏度提供靈活性。

關(guān)鍵詞：傳感器