1. 納米粒度儀中數(shù)字相關(guān)器的技術(shù)優(yōu)勢 濟(jì)南微納公司的納米粒度分析儀，是基于動態(tài)光散射原理（DLS），其關(guān)鍵技術(shù)是提取懸浮在溶液中的納米顆粒的散射光的自相關(guān)函數(shù)，并計(jì)算納米顆粒的擴(kuò)散系數(shù)，從而分析顆粒粒度。 數(shù)字相關(guān)器就是基于動態(tài)光散射原理的粒度測試技術(shù)中提取散射光信號的自相關(guān)函數(shù)的裝置。 目前，國內(nèi)應(yīng)用較多此類裝置主要是進(jìn)口美國Brookhaven公司BI-9000AT、BI-9010AT和Turbocorr數(shù)字相關(guān)器，這些裝置都是基于定制的大規(guī)模集成電路（ASIC）,或基于DSP技術(shù)，或多片芯片及聯(lián)組成，不但很有很大的局限性，而且價格昂貴。另外，國內(nèi)有人嘗試采用軟件的方式實(shí)現(xiàn)數(shù)字相關(guān)器，即先用光子計(jì)數(shù)器將散射光光子計(jì)數(shù)并存儲在存儲器中，然后根據(jù)計(jì)算機(jī)軟件將其數(shù)據(jù)從存儲器中讀出進(jìn)而進(jìn)行相關(guān)運(yùn)算，雖然這樣能計(jì)算出散射光強(qiáng)的相關(guān)函數(shù)，但由于軟件所需的處理時間比硬件所需的處理時間長很多，導(dǎo)致在如此長的處理時間內(nèi)的光子測量被暫停（即處理時間內(nèi)的光子丟失），造成計(jì)算的相關(guān)函數(shù)偏差較大。所以，采用軟件的數(shù)字相關(guān)器實(shí)時性很差，不能滿足顆粒粒度分析的要求。 至此，我們采用硬件的方式實(shí)現(xiàn)數(shù)字相關(guān)器，即用一片F(xiàn)PGA芯片實(shí)現(xiàn)256物理通道的用于動態(tài)光散射原理的納米粒度儀的數(shù)字相關(guān)器，既能滿足納米粒度測試的需求，且具有小體積、低成本、易擴(kuò)展等特點(diǎn)。 2. 動態(tài)光散射納米粒度儀的理論基礎(chǔ) 基于動態(tài)光散射原理的納米粒度儀的基本測試原理如圖所示。由激光器發(fā)出的激光經(jīng)入射光路照射到樣品池中的顆粒上，顆粒的散射光經(jīng)接收光路進(jìn)入光電探測器，隨后由數(shù)字相關(guān)器求出其光強(qiáng)的自相關(guān)函數(shù)G2(τ)。 基于動態(tài)光散射原理的納米粒度儀基本測試原理圖 基于動態(tài)光散射原理的納米粒度儀基本測試原理圖 由采樣時間發(fā)生模塊、光子計(jì)數(shù)模塊、自相關(guān)運(yùn)算模塊和計(jì)算機(jī)接口模塊這四個主要模塊以及配上相應(yīng)的同步復(fù)位模塊和控制模塊實(shí)現(xiàn)的數(shù)字相關(guān)器，其物理通道為256路，等效通道可達(dá)5000多通道，自相關(guān)曲線延遲時間可由納米級跨越到秒級。 因此，該研究中采用FPGA技術(shù)以硬件的形式實(shí)現(xiàn)的數(shù)字相關(guān)器*動態(tài)光散射納米粒度儀中獲取自相關(guān)函數(shù)的需求。該數(shù)字相關(guān)器已成功應(yīng)用于我公司W(wǎng)inner801、Winner802光子相關(guān)納米粒度分析儀中。 早在2008年，微納公司就是生產(chǎn)出國內(nèi)*臺納米粒度分析儀，該數(shù)字相關(guān)器技術(shù)于2010年已申請并獲得國家實(shí)用新型，*的*技術(shù)使得納米粒度儀逐漸贏得國內(nèi)市場，并深受廣大客戶的歡迎。 濟(jì)南微納納米粒度儀相關(guān)技術(shù)資料請登錄濟(jì)南微納查看；
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