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便攜式電阻率測(cè)試儀

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北京羲和陽(yáng)光科技發(fā)展有限公司

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

本儀器按照半導(dǎo)體材料電阻率的及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法有關(guān)規(guī)定設(shè)計(jì)，它主要由電器測(cè)量部份（主機(jī)）及四探針探頭組成。樣品測(cè)試電流由高精寬的恒流源提供，隨時(shí)可進(jìn)行校準(zhǔn)，以確保電阻率測(cè)量的準(zhǔn)確度。對(duì)0.1～19.9Ω*cm標(biāo)準(zhǔn)樣片的測(cè)量誤差不超過(guò)±5%

詳細(xì)介紹

便攜式電阻率測(cè)試儀
產(chǎn)品型號(hào)：XH100
本儀器按照半導(dǎo)體材料電阻率的及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法有關(guān)規(guī)定設(shè)計(jì)，它主要由電器測(cè)量部份（主機(jī)）及四探針探頭組成。樣品測(cè)試電流由高精寬的恒流源提供，隨時(shí)可進(jìn)行校準(zhǔn)，以確保電阻率測(cè)量的準(zhǔn)確度。對(duì)0.1～19.9Ω*cm標(biāo)準(zhǔn)樣片的測(cè)量誤差不超過(guò)±5%。

功能特點(diǎn)
XH100型硅料電阻測(cè)試儀是用來(lái)測(cè)量硅晶塊、晶片、碎片料、米粒料、頭尾料、堝底料、邊皮料等材料方塊電阻的小型儀器。是生產(chǎn)線上大批量選料的理想儀器，具有簡(jiǎn)便的比較功能，操作方便。
技術(shù)參數(shù)

測(cè)量范圍
■ 可測(cè)量電阻率：0.1～19.9Ω*cm（可擴(kuò)展）。
■ zui大電阻測(cè)量誤差（按JJG508-87進(jìn)行）≤±5%
■ 適合測(cè)量各種厚度的硅片，可測(cè)晶片直徑（zui大）
■ 園形：Ф100mm ；方形：230×220mm

恒流源
■ 輸出電流：0.01～1mA連續(xù)可調(diào)，誤差≦±0.5%。
■ 恒流精度：各檔均優(yōu)于±0.1%

直流數(shù)字電壓表
■ 測(cè)量范圍：0.1～199.9mv 靈敏度：10μv
■ 準(zhǔn)確度：0.2%（±2個(gè)字）

供電電源
■ AC： 220V ±10%（保護(hù)隔離） 50/60HZ
■ 功率2W

四探針探頭
■ 鎢鋼探針
■ 間距1±0.01mm
■ 針尖絕緣電阻≥100mΩ
■ 機(jī)械游移率≦1.0%
■ 探針壓力 12-16牛頓（總力）
使用環(huán)境
■ 溫度23±2℃，相對(duì)濕度≤80%
■ 無(wú)較強(qiáng)的電場(chǎng)干擾無(wú)強(qiáng)光直接照射

使用方法
■ 使用儀器前將電源線、測(cè)試筆聯(lián)接線與主機(jī)聯(lián)接好，電源線插頭插入～220V座插后，開(kāi)啟背板上的電源開(kāi)關(guān)，此時(shí)前面板上的數(shù)字表、發(fā)光二極管都會(huì)亮起來(lái)。探針頭壓在被測(cè)單晶上，右邊的表顯示從1、4探針流入單晶的測(cè)量電流，左邊的表顯示電阻率或2、3探針間的電位差。電流大小通過(guò)旋轉(zhuǎn)前面板右上方的電位器旋鈕加以調(diào)節(jié)。
■ 校準(zhǔn)設(shè)備：厚度小于3.98mm的（本公司提供厚度小于3.98mm的標(biāo)準(zhǔn)電流修正系數(shù)表）取與要備測(cè)試硅材料厚度相同的硅材料標(biāo)準(zhǔn)樣塊校準(zhǔn)電阻率測(cè)試儀，測(cè)試厚度大于3.98mm的硅材料可取厚度大于3.98mm的任一標(biāo)準(zhǔn)樣塊校準(zhǔn)電阻率測(cè)試儀。
■ 測(cè)試: 用四探針接觸硅材料，以探針壓下三分之二為準(zhǔn)，待儀器顯示數(shù)字穩(wěn)定即可.

關(guān)鍵詞：數(shù)字電壓表電位器