測量范圍 |
(230~275)nm,λP=254nm |
尺寸 |
78mm |
電源 |
9v |
分辨率 |
0.1 |
加工定制 |
否 |
解析度 |
1 |
精確度 |
0.01 |
類型 |
數(shù)字式 |
取樣率 |
65 |
單通道紫外輻照計數(shù)字液晶顯示 采用SMT貼片技術(shù),選用高精度低功耗數(shù)字芯片,儀器外殼為流線型設(shè)計,探測器經(jīng)過嚴格的光譜及角度特性校正,性能穩(wěn)定,適用性強。適用于光化學、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測量工作。
單通道紫外輻照計數(shù)字液晶顯示
單通道紫外輻照計數(shù)字液晶顯示
產(chǎn)品介紹
UV-B型紫外輻照計采用SMT貼片技術(shù),選用高精度低功耗數(shù)字芯片,儀器外殼為流線型設(shè)計,探測器經(jīng)過嚴格的光譜及角度特性校正,性能穩(wěn)定,適用性強。適用于光化學、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測量工作。
性能特點
1、光譜及角度特性經(jīng)嚴格校正
2、數(shù)字液晶顯示,帶背光
3、手動/自動量程切換
4、數(shù)字輸出接口(USB,冗余供電)
5、低電量提醒
6、自動延時關(guān)機
7、有數(shù)字保持
8、輕觸按鍵操作,蜂鳴提示
技術(shù)參數(shù)
項目 | 參數(shù)() |
波長范圍λ1,峰值波長λp |
|
波長范圍λ2,峰值波長λp | (275~330)nm,λP=297nm |
輻照度測量范圍 | (0.1~199.9×103) μW/cm2 |
紫外帶外區(qū)雜光 | UV254<0.1%,UV297<0.05% |
相對示值誤差 | ±8%(相對于NIM標準) |
角度響應特性 | ±5% (α≤10°) |
線性誤差 | ±1% |
換檔誤差 | ±1% |
短期不穩(wěn)定性 | ±1%(開機30min后) |
疲勞特性 | 衰減量<2% |
零值誤差 | 滿量程的±1% |
響應時間 | <1秒 |
使用環(huán)境 | 溫度(0~40)℃;濕度<85%RH |
尺寸和重量 | 160mm×78mm×43mm;0.2kg |
電源 | 6F22型9V積層電池(非充電電池) |
整機功耗 | <0.1VA |
配置 | 主機、254或297探頭選一、探頭蓋、數(shù)據(jù)線、說明書、合格證、9V電池等 |
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