儀器簡介：
NIR-800型近紅外光譜儀適合分析含C-H，O-H，N-H等基團化合物。短波近紅外光譜區(qū)范圍為800nm~1100nm，光譜中包含了絕大部分有機物和部分常見化合物如水、酸等的結(jié)構(gòu)和組成信息。因此，近紅外分析儀器可被廣泛的應(yīng)用到石油、化工、糧食和商檢等部門。
技術(shù)參數(shù)：
儀器基本參數(shù)
波長范圍：800nm-1100nm
透射比范圍：0％τ-120 ％τ
光譜帶寬：2nm（在871.6nm處）
數(shù)據(jù)分辨率：0.3nm
探測器：1024元/2048元陣列電荷耦合器件（CCD）/光電二極管陣列（PDA）
主要技術(shù)指標(biāo)
波長準(zhǔn)確度：±1.0nm
波長重復(fù)性：≤0.1nm
雜散光：≤0.2%τ(830nm處)
透射比準(zhǔn)確度：±1%τ
透射比重復(fù)性：≤0.5%τ
信噪比：0%τ處≤0.1% τ，τ處≤0.5％τ（900nm處）
采樣速度：大約0.3ms/scan
外設(shè)：通用計算機
探測器 :1024元 電荷耦合器件（CCD）/光電二極管陣列（PDA）
系統(tǒng)軟件
NIR-800近紅外光譜儀完成基本采集功能的數(shù)據(jù)采集軟件
配套分析軟件（可供用戶在現(xiàn)有化學(xué)計量學(xué)軟件基礎(chǔ)上進行二次開發(fā)）
主要特點：
波長范圍：800nm-1100nm
透射比范圍：0％τ-120 ％τ
光譜帶寬：2nm（在871.6nm處）
數(shù)據(jù)分辨率：0.3nm
探測器：1024元/2048元陣列電荷耦合器件（CCD）/光電二極管陣列（PDA）
主要技術(shù)指標(biāo)
波長準(zhǔn)確度：±1.0nm
波長重復(fù)性：≤0.1nm
雜散光：≤0.2%τ(830nm處)
透射比準(zhǔn)確度：±1%τ
透射比重復(fù)性：≤0.5%τ
信噪比：0%τ處≤0.1% τ，τ處≤0.5％τ（900nm處）
采樣速度：大約0.3ms/scan
外設(shè)：通用計算機
探測器 :1024元 電荷耦合器件（CCD）/光電二極管陣列（PDA）
系統(tǒng)軟件
NIR-800近紅外光譜儀完成基本采集功能的數(shù)據(jù)采集軟件
配套分析軟件（可供用戶在現(xiàn)有化學(xué)計量學(xué)軟件基礎(chǔ)上進行二次開發(fā)）
主要特點：
NIR-800近紅外光譜儀陣列型的近紅外光譜儀由于采用了CCD作檢測器，無移動光學(xué)部件，與傳統(tǒng)的分光儀器相比，具有結(jié)構(gòu)簡單，性能穩(wěn)定、掃描速度快和操作方便的優(yōu)點，具有好的光譜重復(fù)性。
NIR-800近紅外光譜儀采用通用計算機進行控制，配備中文操作軟件，操作簡便，功能完善。單色器的光學(xué)系統(tǒng)采用交叉C-T結(jié)構(gòu)（Crossed Czerny-Turner結(jié)構(gòu)）, 具有慧差小，象散低, 雜散光少等優(yōu)點，產(chǎn)品本身設(shè)計新穎，性能*，采用CCD或PDA陣列探測器，能夠測量被測物質(zhì)吸收光譜、透過率光譜，完成多種基本測試功能。
NIR-800近紅外光譜儀采用通用計算機進行控制，配備中文操作軟件，操作簡便，功能完善。單色器的光學(xué)系統(tǒng)采用交叉C-T結(jié)構(gòu)（Crossed Czerny-Turner結(jié)構(gòu)）, 具有慧差小，象散低, 雜散光少等優(yōu)點，產(chǎn)品本身設(shè)計新穎，性能*，采用CCD或PDA陣列探測器，能夠測量被測物質(zhì)吸收光譜、透過率光譜，完成多種基本測試功能。
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