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導(dǎo)電膜雙電測電四探針測試儀

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更新時間：2025-03-17 12:07:41瀏覽次數(shù)：57次

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寧波瑞柯偉業(yè)儀器有限公司

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產(chǎn)品簡介

導(dǎo)電膜雙電測電四探針測試儀

詳細介紹

適用范圍Widely used：

硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻半導(dǎo)體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件，導(dǎo)電薄膜（ITO導(dǎo)電膜玻璃等），金屬膜，導(dǎo)電漆膜，蒸發(fā)鋁膜，PCB銅箔膜，

EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率導(dǎo)電性油漆，導(dǎo)電性糊狀物，導(dǎo)電性塑料，導(dǎo)電性橡膠，導(dǎo)電性薄膜，金屬薄膜，

抗靜電材料， EMI 防護材料，導(dǎo)電性纖維，導(dǎo)電性陶瓷等

導(dǎo)電膜雙電測電四探針測試儀

功能描述Description：

1. 四探針組合雙電測量方法

2. 液晶顯示，自動測量，自動量程，自動系數(shù)補償.

3. 集成電路系統(tǒng)、恒流輸出.

4. 選配：PC軟件進行數(shù)據(jù)管理和處理.

5. 提供中文或英文兩種語言操作界面選擇

導(dǎo)電膜雙電測電四探針測試儀

參照標準：

1.硅片電阻率測量的標準（ASTM F84）.

2.GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》.

3.GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》.

4.GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》.

導(dǎo)電膜雙電測電四探針測試儀

雙電組合測試方法：

利用電流探針、電壓探針的變換，進行兩次電測量，對數(shù)據(jù)進行雙電測分析，解決樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機械游移等因素對測量結(jié)果的影響，適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試。

規(guī)格型號/ model	FT-341	FT-342	FT-343	FT-345	FT-346	FT-347
1.方塊電阻sheet resistance	10-5～2×105Ω/□	10-4～2×105Ω/□	10-3～2×105Ω/□	10-3～2×104Ω /□	10-2～2×105Ω/□	10-2～2×104Ω/□
2.電阻率Resistivity	10-6～2×106Ω-cm	10-5～2×106Ω-cm	10-4～2×106Ω-cm	10-4～2×105Ω-cm	10-3～2×106Ω-cm	10-3～2×106Ω-cm
3.測試電流Test current	0.1μA.μA.0μA，100µA，1mA，10mA，100mA	1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA	0.1μA.μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA	1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA	0.1μA、1μA、10μA，100µA，1mA，10mA，100mA	1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA
4.電流精度Current	±0.1% accuracy	±0.2% accuracy	±0.2% accuracy	±0.3% accuracy	±0.3% accuracy	±0.3% accuracy
5.電阻精度Resistance	≤0.3% accuracy	≤0.3% accuracy	≤0.3% accuracy	≤0.5% accuracy	≤0.5% accuracy	≤0.5% accuracy
6.顯示讀數(shù)display	屏液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導(dǎo)率Large screen LCD: Resistance. resistivity. sheet resistance. temperature. unit conversion.temperature coefficient. current. voltage. probe shape. probe spacing. thickness. conductivity
7.測試方式	test mode雙電測量Double electrical measurement
8.電源Power	輸入: AC 220V±10%.50Hz 功耗：<30W
9.誤差errors	≤3%（標準樣片結(jié)果）
10.選購功能choose to buy	選購1.pc軟件；選購2.方形探頭；選購3.直線形探頭；選購4.測試平臺；5.標準電阻.1.pc software; 2. square probe; 3. linear probe; 4. test platform
11.測試探頭test probe	探針間距選購：1mm；2mm；3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購：碳化鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針Optional probe spacing: 1mm；2mm；3mm in three sizes.Select probe material: tungsten carbide needle. white steel needle. gilded copper hemispherical needles.