基本上，可以使用兆歐表進行三種不同的測試。
1)絕緣電阻(IR)
這是的測試。完成所需的連接后，施加測試電壓一分鐘。(一分鐘間隔是一種行業(yè)慣例，允許大家同時進行讀數(shù)。這樣，讀數(shù)的比較將是有價值的，因為雖然由不同的人采取，但測試方法是一致的。)在此期間區(qū)間，阻力應該下降或保持相對穩(wěn)定。較大的絕緣系統(tǒng)將顯示穩(wěn)定下降，而較小的系統(tǒng)將保持穩(wěn)定，因為在較小的絕緣系統(tǒng)上電容和吸收電流下降到零的速度更快。一分鐘后，讀取并記錄電阻值。
請注意，IR對溫度敏感。當溫度上升時，IR下降，反之亦然。因此，要將新讀數(shù)與以前的讀數(shù)進行比較，您需要將讀數(shù)校正到某個基本溫度。通常以20°C或40°C作為比較溫度；表格可用于任何更正。然而，一個普遍的經(jīng)驗法則是，IR每變化10°C就會變化兩倍。
例如，假設我們在絕緣溫度為30°C的情況下獲得了100兆歐的IR讀數(shù)。校正后的IR(在20°C下)將為100兆歐乘以2，即200兆歐。
另請注意，可接受的IR值取決于設備。歷，現(xiàn)場工作人員曾使用每千伏加一兆歐的可疑標準。
測試結(jié)果應與以前的讀數(shù)和類似設備的讀數(shù)進行比較。應調(diào)查任何低于NETA標準最小值或突然偏離先前值的值。
2)介質(zhì)吸收比
該測試認識到這樣一個事實，即在施加測試電壓后，“良好”絕緣將顯示逐漸增加的IR。連接完成后，施加測試電壓，并在兩個不同時間讀取IR：通常為30秒和60秒，或60秒和10分鐘。較晚的讀數(shù)除以較早的讀數(shù)，結(jié)果為介電吸收比。10分鐘/60秒。比率稱為極化指數(shù)(PI)。
例如，假設我們使用前面描述的兆歐表并施加適當?shù)臏y試電壓。一分鐘。IR讀數(shù)為50兆歐，10分鐘。IR讀數(shù)為125兆歐。因此，PI是125兆歐除以50兆歐，即2.5。
3)階躍電壓測試
該測試特別適用于評估老化或損壞的絕緣材料，不一定有水分或污染。這里需要一個雙電壓測試儀。連接完成后，IR測試在低電壓下完成，比如500V。然后將試樣放電并再次進行測試，這次是在更高的電壓下，例如2500V。如果兩個IR讀數(shù)之間存在超過25%的差異，則應懷疑老化或絕緣損壞。
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