術(shù)語(yǔ)“接觸電阻測(cè)試”指的是設(shè)備閉合時(shí)，由設(shè)備表面條件和其他變量產(chǎn)生的電流阻力。當(dāng)以下人員交叉路徑時(shí)，可能會(huì)發(fā)生這種情況：
1.斷路器
2.接觸器
3.重傳
4.一組開(kāi)關(guān)
5.連接器
接觸電阻測(cè)試確定電氣連接的電阻，例如終端、接頭、連接器、母線(xiàn)段和電纜連接。這些可以是任意兩個(gè)導(dǎo)體連接，例如電纜或母線(xiàn)段。歐姆表是用于執(zhí)行風(fēng)管測(cè)試的設(shè)備，因此，它有時(shí)被稱(chēng)為風(fēng)管測(cè)試儀。
為什么需要接觸電阻測(cè)試？
為了保持?jǐn)嗦菲鞯慕】岛凸δ?，必須定期檢查觸點(diǎn)。由于維護(hù)不當(dāng)或連接斷開(kāi)，可能會(huì)出現(xiàn)電弧、缺相甚至火災(zāi)。
增加的接觸電阻會(huì)導(dǎo)致載流能力降低和高電流連接中的損耗增加。通常，使用微/毫歐姆表或低歐姆表執(zhí)行導(dǎo)管測(cè)試。
接觸電阻測(cè)試有助于檢測(cè)觸點(diǎn)的微動(dòng)腐蝕以及診斷和預(yù)防接觸腐蝕?？梢酝ㄟ^(guò)增加必須調(diào)節(jié)的接觸電阻來(lái)創(chuàng)建具有顯著電壓降的系統(tǒng)。
接觸電阻測(cè)試的程序是什么？
目視檢查和接觸電阻測(cè)試是斷路器觸頭上進(jìn)行的兩項(xiàng)測(cè)試。
目視檢查包括檢查斷路器觸點(diǎn)是否存在電弧引起的點(diǎn)蝕以及觸點(diǎn)損壞或變形。
第二項(xiàng)檢查是接觸電阻測(cè)試。這是通過(guò)向觸點(diǎn)施加恒定電流并監(jiān)測(cè)它們兩端的電壓降來(lái)實(shí)現(xiàn)的。有必要將電阻值與制造商的標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行比較。此外，謹(jǐn)慎的做法是將當(dāng)前值與歷史記錄進(jìn)行比較。
這些測(cè)試必須同時(shí)進(jìn)行，因?yàn)橛|點(diǎn)可能具有高接觸電阻但仍會(huì)損壞。連接必須表現(xiàn)出足夠的接觸電阻并通過(guò)目視檢查測(cè)試才能被認(rèn)為是健康的。
接觸電阻測(cè)試的典型方法
微歐表通常使用四線(xiàn) (Kelvin) 直流壓降測(cè)量接觸電阻，通過(guò)去除接觸電阻和點(diǎn)集電阻確保讀數(shù)更準(zhǔn)確。
接觸電阻測(cè)試使用兩個(gè)電流注入連接和兩個(gè)用于電壓降測(cè)量的電位引線(xiàn)進(jìn)行；電壓電纜必須連接到盡可能靠近要測(cè)試的連接，并且必須始終包含在由互鎖電流引線(xiàn)產(chǎn)生的鏈接電路內(nèi)。
接觸電阻是通過(guò)將微處理器控制的微歐表記錄的電壓降與接觸電阻進(jìn)行比較來(lái)確定的。同時(shí)，由連接中的熱 EMF 效應(yīng)引起的潛在誤差被添加到記錄的總電壓降中。當(dāng)電壓完好無(wú)損時(shí)，可以通過(guò)多種不同的方式進(jìn)行測(cè)量。在這種情況下，它們會(huì)導(dǎo)致接觸電阻測(cè)試不準(zhǔn)確。
接觸電阻會(huì)影響導(dǎo)熱系數(shù)，主要是在通過(guò)顆粒介質(zhì)傳輸熱量時(shí)。當(dāng)流體流動(dòng)改變通道時(shí)，靜水壓力會(huì)降低。
華天電力專(zhuān)業(yè)生產(chǎn)回路電阻測(cè)試儀(又稱(chēng)回路電阻自動(dòng)測(cè)試儀)，從事電測(cè)行業(yè)多年，旗下產(chǎn)品品質(zhì)，歡迎廣大客戶(hù)前來(lái)選購(gòu)。
