X-RAYX射線測(cè)厚儀
菲希爾Ficherscoper X-RAY X射線熒光光譜儀
無(wú)論是高精度鍍層厚度測(cè)量或是**材料成分分析，F(xiàn)ISCHER眾多系列的X射線熒光光譜儀可以為任何應(yīng)用提供*佳儀器選擇。除了擁有很多的**和磚利之外，F(xiàn)ISCHER-SCOPE X-RAY產(chǎn)品線還具備近30年的經(jīng)驗(yàn)，并且仍在不斷的發(fā)展中。

詳細(xì)介紹

X-RAYX射線測(cè)厚儀

菲希爾Ficherscoper X-RAY X射線熒光光譜儀

無(wú)論是高精度鍍層厚度測(cè)量或是**材料成分分析，F(xiàn)ISCHER眾多系列的X射線熒光光譜儀可以為任何應(yīng)用提供*佳儀器選擇。除了擁有很多的**和磚利之外，F(xiàn)ISCHER-SCOPE X-RAY產(chǎn)品線還具備近30年的經(jīng)驗(yàn)，并且仍在不斷的發(fā)展中。

確定細(xì)小結(jié)構(gòu)和大型工件上的單一或復(fù)合鍍層、RoHS要求的痕量分析、測(cè)試珠寶和黃金或在連續(xù)生產(chǎn)線上在線測(cè)量，F(xiàn)ISCHERSCOPE X-RAY儀器*實(shí)驗(yàn)室和生產(chǎn)要求。

儀器智能控制軟件稱為 WinFTM. 。它不僅使操作簡(jiǎn)單化，而且為類似軟件在多功能性及高**性方面設(shè)立了標(biāo)準(zhǔn)。

菲希爾Ficherscoper X-RAY X射線熒光光譜儀
XUL系列型號(hào)的X射線熒光光譜儀，設(shè)計(jì)緊湊，用于測(cè)量鍍層厚度和分析材料。X射線源和探測(cè)器位于測(cè)量室的下方，樣品可以直接放置在測(cè)量臺(tái)上輕松定位。

盡管結(jié)構(gòu)緊湊，但是XUL型儀器配置了大體積的測(cè)量腔和手動(dòng)控制的XY工作臺(tái)，是測(cè)量電鍍件（如:螺絲，螺釘或螺帽，或裝飾鍍層）的理想選擇。另外，電鍍液的金屬含量也可以快速而方便地分析。

菲希爾Ficherscoper X-RAY X射線熒光光譜儀是專為測(cè)量細(xì)小工件而設(shè)計(jì)的。它配備了微距焦X射線管、可自動(dòng)切換的準(zhǔn)直器和多種基本濾波器，特別適合于測(cè)量微小樣品，如：插針、接插件和線材以及對(duì)印制電路板的手動(dòng)測(cè)量。

FISCHERSCOPE® X-RAY XAN®界面友好的XAN型儀器十分適用于生產(chǎn)業(yè)務(wù)和研發(fā)領(lǐng)域中的材料分析測(cè)試。

專門為黃金珠寶業(yè)設(shè)計(jì)的XAN型儀器，可用于快速、無(wú)損測(cè)量產(chǎn)品真?zhèn)?，并?zhǔn)確確定實(shí)際的金含量。對(duì)于黃金及貴金屬合金的詳盡分析快速而直接。

配備了硅漂移探測(cè)器后，XAN250型儀器能分析薄鍍層，復(fù)雜合金及粉末、液體及塵埃的成分，這也是它為什么廣受實(shí)驗(yàn)室、測(cè)試機(jī)構(gòu)及貴金屬冶煉廠、海關(guān)檢驗(yàn)等機(jī)構(gòu)歡迎的原因。儀器出色的重復(fù)精度，可以與灰吹法相媲美。

X-RAYX射線測(cè)厚儀

關(guān)鍵詞：測(cè)厚儀熒光光譜儀光譜儀工作臺(tái) 電路板