wafer晶圓表面瑕疵檢查燈SL8904-H簡介:
SL8904-H是一款手持式wafer晶片晶圓表面瑕疵檢查燈,符合ASTM E 3022等各種國際標準,適用各行的檢測;配有三腳架,解放雙手方便各種測試; 高強度紫外線細微檢測晶圓表面各種瑕疵,紫外燈的光束輪廓非常均勻,沒有任何足跡顯示LED的陰影,黑點或其他干擾缺陷; SL8904系列具有4個強大的UV-A(365 nm)LED和6個側邊的白光LED,它們使用2個獨立的開關,無需單獨的手電筒。
wafer晶圓表面瑕疵檢查燈SL8904-H規(guī)格參數:
型號: SL8104-H
峰值波長:365 – 370nm;
紫外線強度: 22000uw/cm2,在15英寸距離(相當于380mm距離 )-可以按照客戶的要求設計 ;
紫外線燈數: 4× 5W 365NM UV LED和6個側邊白燈, LED平均壽命是30000小時
電源:交流100-240AC/50H充電器 ;直流聚合物電池組—交流和直流2種供電方式。
照射面積: 120 * 160mm在38厘米距離
紫外線光強的穩(wěn)定性: > 90 %
產品尺寸: 180 * 190 * 106mm; 凈重: 0.68KG(不含配件)
(我們掌握了核心技術,我們可以根據客戶的需求調整紫外線的強度)
產品型號 | SL8904-H高強度晶圓表面瑕疵檢測燈 | 備注 |
LED的數量和規(guī)格 | 4顆5瓦日亞NICHIA 365NM UV LED | 可以按照客戶的要求定制 |
365NM,395NM,455NM,525NM,595NM,625NM,6000K可以任意選擇其中的一種波長,特殊要求可以定制黃綠燈(加定制的濾光片) 分別是:SL8904-395紫外燈;SL8904-455藍色燈;SL8904-G綠光檢查燈;SL8904-Y黃光的檢查燈;SL8904-GY黃綠光檢查燈;SL8904-W白光的檢查燈; |
側邊白光燈 | 6個LED的白光 |
檢查燈的亮度(測試距離38.1cm) | 21000uw/cm2 |
照射面積(單位MM) | 126*160mm |
開關方式 | 1個開關控制側邊燈,另外一個開關控制檢查燈 |
使用壽命 | 30000小時 |
供電方式 | 電量顯示功能,鋰電池組供電,檢查燈連續(xù)使用4小時,側邊燈10小時 |
尺寸和凈重 | 材料:ABS+鋁合金材料,尺寸:180*190*106mm; 凈重:0.68KG 180 * 190 * 106mm; 凈重: 0.68KG |
可選配件 | 三腳架,防護眼鏡 |
wafer晶圓表面瑕疵檢查燈SL8904-H簡寫和代號:
SL-8904XX
H代表高強度365NM紫外燈;V代表395NM紫光;
B代表455NM藍光;G代表525NM綠光;
A代表595NM黃光;R代表625NM紅光;
GY代表510-595NM黃綠光;W代表4000-600K的白光
SL8904AC:使用交流電的,交流電電版本;
wafer晶圓表面瑕疵檢查燈SL8904-H特點
●100 %固態(tài)冷確保了在強磁場情況下正常工作
●的機械冷卻系統可使LED冷卻,以便在長時間使用時能保持波長的輸出。
●可同時使用UV燈和側邊白光照明功能,使用2個獨立的開關
●極大的覆蓋面積可達260mm,最小UV-A強度為1,000μW/ cm2
●啟動按鈕提供即時電源,產品使用2個獨立開關 – 手柄,方便使用。
●8904系列可以使用三腳架,便于操作和在不同情況下使用
wafer晶圓表面瑕疵檢查燈SL8904-H標準包裝
紫外燈SL8904,充電器,防水工具包
wafer晶圓表面瑕疵檢查燈SL8904-H可選配件
備用紫外線過濾眼鏡(橙色或黃色);三腳架
wafer晶圓表面瑕疵檢查燈SL8904-H應用
熒光檢測:鋼鐵,有色金屬,汽車,飛機,熒光滲透探傷,熒光磁粉探傷
污染檢查:電子元器件,電路板,灰塵檢查,LCD面板,進入潔凈室所檢查
SL8904-H高強度紫外燈可以用于晶圓表面微粒檢測。 晶棒在切割、清洗以及無塵室過程中會產生particle等都會對晶圓表面造成污染,而這些particle等異物在SL8904-H高強度紫外線燈照射下會發(fā)出熒光,檢查者會很容易發(fā)現污點,會大幅度提高晶圓的良品率。國內各大芯片封裝廠都使用和采用我們的產品和方案,我們能按照客戶的要求定制各種檢查燈。