J200飛秒激光剝蝕進樣系統(tǒng)無需高度匹配的標準物質(zhì)，也能進行高精度、定量LA-ICP-MS測量，用戶可*依靠J200系統(tǒng)輸送高質(zhì)量的樣品顆粒到ICP-MS系統(tǒng)，ASI公司的技術(shù)團隊擁有30多年激光剝蝕技術(shù)的基礎(chǔ)研究經(jīng)驗和LA-ICP-MS方法的研究背景，J200系統(tǒng)產(chǎn)生的樣品顆粒均勻一致

詳細介紹

J200飛秒激光剝蝕進樣系統(tǒng)無需高度匹配的標準物質(zhì)，也能進行高精度、定量LA-ICP-MS測量，用戶可*依靠J200系統(tǒng)輸送高質(zhì)量的樣品顆粒到ICP-MS系統(tǒng)，ASI公司的技術(shù)團隊擁有30多年激光剝蝕技術(shù)的基礎(chǔ)研究經(jīng)驗和LA-ICP-MS方法的研究背景，J200系統(tǒng)產(chǎn)生的樣品顆粒均勻一致，且尺寸分布合理，一般在10-200nm，運輸效率高，J200LA-fs系列剝蝕樣品精度高，且沒有熱效應(yīng)。

掃描樣品：

J200LA-fs 的兩個相機提供廣角和放大的樣品圖像?！?Integra允許用戶先獲取樣品的廣角圖像，然后在圖像上掃視不同的位置，高倍放大選定點。

深層元素分布：

采用飛秒LA-ICP-MS系統(tǒng)還可以對植物葉片進行深度的剖析。測量葉片內(nèi)部不同部位的元素變化情況以及特定元素的分布情況。實驗使用飛秒激光器，10個脈沖，脈沖1至脈沖10表示葉片的表層至內(nèi)部。

元素分布圖譜：

技術(shù)參數(shù)：

1、設(shè)備重量：600 lbs [272Kg](僅LA主機)；600-650lbs[272-295Kg](Tandem+LIBS檢測器)；

2、LIBS檢測器：Czerny Turner光譜儀 / ICCD檢測器(僅適用于Tandem系統(tǒng))；

3、自動X-Y軸：100mm X 100mm行程范圍，分辨率0.2微米；

4、激光光閘：自動光閘保證激光能量穩(wěn)定；

5、供電要求：110-240 VAC,50/60 Hz, 5A, 保險10A；

6、激光安全等級一級激光產(chǎn)品，樣品加載區(qū)域有光學(xué)安全隔離板，激光自鎖保護裝置。

J200飛秒激光剝蝕進樣系統(tǒng)是LA-ICP-MS技術(shù)向高精度、高準確度、高靈敏度水平發(fā)展的重大突破，為了準確定量的分析元素和同位素，需要高精度的、與測量樣品相匹配的標準物質(zhì)，ICP源的顆粒能*被消解，產(chǎn)生穩(wěn)健、恒定的瞬時ICP-MS信號。用戶可*依靠J200系統(tǒng)輸送高質(zhì)量的樣品顆粒到ICP-MS 系統(tǒng)，在LA-ICP-MS測量過程中引起元素或同位素分餾的兩大主要過程：（1）非化學(xué)計量物質(zhì)剝蝕的熱過程；（2）大樣品顆粒在ICP源不*消解。

關(guān)鍵詞：光譜儀