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FUNATECH顯示器異物目視檢查燈FY-18 外觀因技能水平和個體差異而異。首先，有必要創(chuàng)造一個易于看到的環(huán)境。通過更好的“可視化"，可以抑制人為的工作變化，...

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FUNATECH半導體零件目視檢查燈FY-18外觀因技能水平和個體差異而異。首先，有必要創(chuàng)造一個易于看到的環(huán)境。通過更好的“可視化"，可以抑制人為的工作變化，縮...

tokina圖麗鹵素燈光導光源KTX-100ES?符合RoHS指令?AC100~220V???全球支持?控制端子：兼容D-sub連接器?內(nèi)置快門功能

tokina圖麗鹵素燈光纖光源KTX-100ES ?符合RoHS指令?AC100~220V???全球支持?控制端子：兼容D-sub連接器?內(nèi)置快門功能

tokina圖麗鹵素燈光源KTX-100ES?符合RoHS指令?AC100~220V???全球支持?控制端子：兼容D-sub連接器?內(nèi)置快門功能

tokina圖麗LED光導光源KTL-400 光學測量儀達到傳統(tǒng)KTL-350照度的2.5至3倍。（與我們公司相比）●壽命是Metahara的15倍?！窆氖荕...

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tokina圖麗LED光源KTL-400達到傳統(tǒng)KTL-350照度的2.5至3倍。（與我們公司相比）●壽命是Metahara的15倍。●功耗是Metahara的...

YP-250I電子元器件用表面檢查燈大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測出只有精密探測儀才可測出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).

YP-250I半導體芯片檢測用表面檢查燈大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測出只有精密探測儀才可測出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).

YP-250I液晶面板檢測用目視檢查燈大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測出只有精密探測儀才可測出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).

YP-250I液晶屏幕檢測用目視檢查燈大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測出只有精密探測儀才可測出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).

YP-250I半導體行業(yè)用目視檢查燈大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測出只有精密探測儀才可測出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).

YP-250I晶圓表面瑕疵檢查燈大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測出只有精密探測儀才可測出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).

YP-250I高照度鹵素強光燈大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測出只有精密探測儀才可測出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).

YP-150I表面檢查燈用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵檢查的照明光源，微小瑕疵也可被檢測出來

YP-150I目視檢查燈用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵檢查的照明光源，微小瑕疵也可被檢測出來

YP-150I鹵素強光燈用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵檢查的照明光源，微小瑕疵也可被檢測出來