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FUNATECH顯示器異物目視檢查燈FY-18 外觀因技能水平和個(gè)體差異而異。首先，有必要?jiǎng)?chuàng)造一個(gè)易于看到的環(huán)境。通過(guò)更好的“可視化"，可以抑制人為的工作變化，...

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FUNATECH半導(dǎo)體零件目視檢查燈FY-18外觀因技能水平和個(gè)體差異而異。首先，有必要?jiǎng)?chuàng)造一個(gè)易于看到的環(huán)境。通過(guò)更好的“可視化"，可以抑制人為的工作變化，縮...

tokina圖麗鹵素?zé)艄鈱?dǎo)光源KTX-100ES?符合RoHS指令?AC100~220V???全球支持?控制端子：兼容D-sub連接器?內(nèi)置快門(mén)功能

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tokina圖麗LED光導(dǎo)光源KTL-400 光學(xué)測(cè)量?jī)x達(dá)到傳統(tǒng)KTL-350照度的2.5至3倍。（與我們公司相比）●壽命是Metahara的15倍?！窆氖荕...

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YP-250I電子元器件用表面檢查燈大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測(cè)出只有精密探測(cè)儀才可測(cè)出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).

YP-250I半導(dǎo)體芯片檢測(cè)用表面檢查燈大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測(cè)出只有精密探測(cè)儀才可測(cè)出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).

YP-250I液晶面板檢測(cè)用目視檢查燈大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測(cè)出只有精密探測(cè)儀才可測(cè)出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).

YP-250I液晶屏幕檢測(cè)用目視檢查燈大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測(cè)出只有精密探測(cè)儀才可測(cè)出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).

YP-250I半導(dǎo)體行業(yè)用目視檢查燈大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測(cè)出只有精密探測(cè)儀才可測(cè)出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).

YP-250I晶圓表面瑕疵檢查燈大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測(cè)出只有精密探測(cè)儀才可測(cè)出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).

YP-250I高照度鹵素強(qiáng)光燈大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測(cè)出只有精密探測(cè)儀才可測(cè)出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).

YP-150I表面檢查燈用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵檢查的照明光源，微小瑕疵也可被檢測(cè)出來(lái)

YP-150I目視檢查燈用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵檢查的照明光源，微小瑕疵也可被檢測(cè)出來(lái)

YP-150I鹵素強(qiáng)光燈用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵檢查的照明光源，微小瑕疵也可被檢測(cè)出來(lái)