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日本ARK點照射通用光源AGIL-V它是使用紫外光固化粘合劑粘合光學(xué)元件和非常小的部件的理想選擇。

日本yamada半導(dǎo)體晶圓瑕疵檢查燈YP-150I/YP-250I用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵檢查的照明光源，微小瑕疵也可被檢測出來

日本yamada半導(dǎo)體行業(yè)用目視檢查燈YP-150I/YP-250I 可照明様品表面範(fàn)囲於400.000Lx以上。因使用鹵素光源燈的光源，具有色溫度高、光照不均...

日本yamada液晶面板檢查燈YP-150I/YP-250I 是宏観観察用的照明設(shè)備，可検測各種缺陥如半導(dǎo)體晶片及液晶基板加工中z費人工的成形製品表面的異物、刮...

日本sena高照度目視檢查燈100LE高照度照明設(shè)備(表面檢查燈) 185-LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。適合于TFT面板、CF(彩色...

日本sena手機屏幕檢查燈370TFI/R光源 直流點燈 17V/185W 鹵素?zé)?照度調(diào)整 連續(xù)可調(diào)至大照度的 20%

日本sena觸摸屏面板檢查燈185LE-AL高照度照明設(shè)備（表面檢查燈）185LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。適合于TFT面板、CF（彩...

日本hamamatsu UV-LED 真空紫外光源單元L10706S2D2 VUV 光源單元是一種真空紫外光源單元，集成了 MgF2 窗型緊湊型氘燈。這款光源單...

日本hamamatsu UV-LED 點光源L14310 / L14311 / C14052 系列機身小巧，可輕松安裝到狹窄的密閉空間中。我們開發(fā)出一種可驅(qū)動 ...

日本hamamatsu UV-LED 光源GC-113AGC-113A 具有結(jié)構(gòu)緊湊輕便的特點，采用風(fēng)冷設(shè)計，可實現(xiàn) UV-LED 光源難以達到的高輸出。

日本hamamatsu光 IC 二極管S11153-01MTS11153-01MT 光 IC 具有接近人眼靈敏度的光譜靈敏度特性。單個芯片上有兩個感光面。通過尋...

日本hamamatsu光子計數(shù)頭H10682-210H10682 系列是一款光子計數(shù)頭設(shè)備，包含一個金屬封裝光電倍增管，以及一個高速光子計數(shù)電路和一個高壓電源電...

日本hamamatsu PMA-12 光子多通道分析儀C14631-01PMA-12 是一款緊湊的光譜測量系統(tǒng)，將光譜儀和光電探測器組合成一個裝置。由于高靈敏度...

日本hamamatsu微型光譜儀C13555MA微型光譜儀 TF 系列是采用緊湊、纖薄外殼的多色儀，集成了光學(xué)元件、圖像傳感器和驅(qū)動電路。

日本hamamatsu微型光譜儀C12666MA指尖大小的超緊湊光譜儀探頭，集成 MEMS 和圖像傳感器技術(shù)

日本hamamatsu微型光譜儀C12880MAC12880MA 是一款高靈敏度、超緊湊（指尖大小）的光譜儀探頭，支持較長的波長范圍（高達 850 nm）。密封...

日本takasago高砂熱學(xué)靜電消除裝置ISX-224一個電源中最多可使用 5 個有效電極長度為 120 至 2925 mm（間距 15 mm）的靜電消除電極。...

日本kurodaopt金鹵光源裝置LA-80MT牢不可破、明亮、長壽命的金屬鹵化物光源　比180W型高約1.9倍（與本公司相比）

日本nanocoat表面清潔度檢查設(shè)備coronasurf利用振動電容法（開爾文探針）對因電暈放電而在固體表面放置的電荷引起的表面電位變化進行非接觸測量，定量測...

日本screen用于光刻的黃光源SEBAPRO Light光源使用不具有抗蝕劑敏感波長范圍的國產(chǎn)高亮度LED。維護工程師和工藝工程師可以放心使用。