陳霞
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當(dāng)前位置：秋山科技（東莞）有限公司>>光源設(shè)備>>光度計(jì)>> optiworks 非接觸式三維光學(xué)測(cè)量?jī)xSTIL-DUO
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更新時(shí)間：2024-03-23 12:24:46瀏覽次數(shù)：1273次
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| 產(chǎn)品種類 | 臺(tái)式 | 數(shù)顯功能 | 有 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地 | 進(jìn)口 | 溫控功能 | 有 |
optiworks 非接觸式三維光學(xué)測(cè)量?jī)xSTIL-DUO
實(shí)現(xiàn)更精確的表面形狀測(cè)量。 更寬的測(cè)量范圍 除了先前型號(hào)中使用的
測(cè)量方法（“共聚焦色度模式"）外，還安裝了新的“干涉測(cè)量模式"。 現(xiàn)在可以支持更精確的表面輪廓測(cè)量。 兩種模式都可以根據(jù)所需的測(cè)量精度使用，從而擴(kuò)大了應(yīng)用范圍。
雙?？刂破?/p>
控制器可用于共聚焦色度模式和干涉測(cè)量模式。 與以前的型號(hào)一樣，系統(tǒng)配置易于使用且簡(jiǎn)單，只需根據(jù)所需的測(cè)量精度更換筆式模塊即可。
光源發(fā)出的光會(huì)反射在測(cè)量對(duì)象、參考板和參考平面上。 此時(shí)，兩個(gè)反射光之間存在光程差。 如圖所示，如果將參考板插入待測(cè)物體的前面并盡可能靠近，使光程差進(jìn)入干涉距離，則兩個(gè)反射光之間會(huì)發(fā)生干涉。 由于這種干涉的光譜強(qiáng)度是由波長(zhǎng)調(diào)制的，因此可以通過(guò)軸向顏色校正光學(xué)筆進(jìn)行測(cè)量和分析，以實(shí)現(xiàn)更精確的厚度測(cè)量。
optiworks 非接觸式三維光學(xué)測(cè)量?jī)xSTIL-DUO
| 控制器 | CCS 控制器 | 光學(xué)筆“DUO"控制器 |
|---|---|---|
| 測(cè)量頻率 | 100~2，000點(diǎn)/秒 | ~2，000 點(diǎn)/秒 |
| 測(cè)量頻率選擇 | ○ | ○ |
| 光源 | 白色LED | 鹵素 |
| 光源強(qiáng)度 | 可 編程 序 | 可 編程 序 |
| 自動(dòng)照度調(diào)節(jié)功能 | ○ | - |
| 遙控 | - | - |
| 大小 | 168×138×120 毫米 | 376×363×114 毫米 |
| 重量 | 1.4 千克 | 6 公斤 |
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