適用標(biāo)準(zhǔn)：
國際標(biāo)準(zhǔn)
中國GB 4334.9-84不銹鋼 點(diǎn)蝕電位測量方法
美國ASTM G61-1986(2014) 實(shí)施鐵，鎳或鈷基合金的局部腐蝕敏感性的循環(huán)動(dòng)電勢極化測量的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
日本JIS G0577-1981不銹鋼的點(diǎn)腐蝕電位測定方法
國家標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 17899-1999 不銹鋼點(diǎn)蝕電位測量方法
GB/T 18590-2001 金屬和合金的腐蝕 點(diǎn)蝕評定方法
GB/T 32550-2016 金屬和合金的腐蝕 恒電位控制下的臨界點(diǎn)蝕溫度測定
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)
YY/T 1074-2002 外科植入物 不銹鋼產(chǎn)品點(diǎn)蝕電位
YY/T0149-2006不銹鋼科研器械耐腐蝕性能試驗(yàn)方法
YY/T 0695-2008 小型植入器械腐蝕敏感性的循環(huán)動(dòng)電位極化標(biāo)準(zhǔn)測試方法
國際標(biāo)準(zhǔn)
中國GB 4334.9-84不銹鋼 點(diǎn)蝕電位測量方法
美國ASTM G61-1986(2014) 實(shí)施鐵，鎳或鈷基合金的局部腐蝕敏感性的循環(huán)動(dòng)電勢極化測量的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
日本JIS G0577-1981不銹鋼的點(diǎn)腐蝕電位測定方法
國家標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 17899-1999 不銹鋼點(diǎn)蝕電位測量方法
GB/T 18590-2001 金屬和合金的腐蝕 點(diǎn)蝕評定方法
GB/T 32550-2016 金屬和合金的腐蝕 恒電位控制下的臨界點(diǎn)蝕溫度測定
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)
YY/T 1074-2002 外科植入物 不銹鋼產(chǎn)品點(diǎn)蝕電位
YY/T0149-2006不銹鋼科研器械耐腐蝕性能試驗(yàn)方法
YY/T 0695-2008 小型植入器械腐蝕敏感性的循環(huán)動(dòng)電位極化標(biāo)準(zhǔn)測試方法
硬件參數(shù)指標(biāo)
| 恒電位控制范圍：±10V | 恒電流控制范圍：±2.0A |
| 電位控制精度：0.1%×滿量程讀數(shù)±1mV | 電流控制精度：0.1%×滿量程讀數(shù) |
| 電位靈敏度：10μV(>100Hz), 3μV(<10Hz) | 電流靈敏度：1pA |
| 電位上升時(shí)間：﹤1μS(<10mA),<10μS(<2A) | 電流量程：2nA～2A, 共10檔 |
| 參比電極輸入阻抗：1012Ω||20pF | 輸出電流：2.0A |
| 槽壓輸出：±21V （可擴(kuò)展至±200V) | 電流掃描增量：1mA @1A/mS |
| CV和LSV掃描速度：0.001mV～10000V/s | 電位掃描電位增量：0.076mV @1V/mS |
| CA和CC脈沖寬度：0.0001～65000s | DPV和NPV脈沖寬度：0.0001～1000s |
| SWV頻率：0.001～100KHz | CV的最小電位增量：0.075mV |
| AD數(shù)據(jù)采集：16bit@1MHz，20bit @1KHz | 電流與電位量程：自動(dòng)設(shè)置 |
| DA分辨率：16bit，建立時(shí)間：1μS | 低通濾波器 ：8段可編程 |
| 通訊接口：USB2.0 | 儀器重量：6.5Kg |
| 外形尺寸（cm）：36.5(W)X30.5 (D)X16 (H) |
儀器配置
1）儀器主機(jī)1臺
2）CorrTest測試與分析軟件1套
3）電源線/USB數(shù)據(jù)線各1條
4）電極電纜線（含噪聲測量線）1條
5）模擬電解池1個(gè)（儀器自檢器件）
6）點(diǎn)蝕電位測試配件1套，含：電解池1套、參比電極1支、鉑金輔助電極1支
7）選配：水浴鍋
8）選配：電腦
2）CorrTest測試與分析軟件1套
3）電源線/USB數(shù)據(jù)線各1條
4）電極電纜線（含噪聲測量線）1條
5）模擬電解池1個(gè)（儀器自檢器件）
6）點(diǎn)蝕電位測試配件1套，含：電解池1套、參比電極1支、鉑金輔助電極1支
7）選配：水浴鍋
8）選配：電腦
穩(wěn)態(tài)極化：開路電位測量（OCP）、恒電位極化（I-t曲線)、恒電流極化、動(dòng)電位掃描（TAFEL曲線）、動(dòng)電流掃描（DGP）
暫態(tài)極化：任意恒電位階梯波、任意恒電流階梯波、多電位階躍（VSTEP）、多電流階躍（ISTEP）
伏安分析：線性掃描伏安法（LSV）#、線性循環(huán)伏安法（CV）、
腐蝕測量：動(dòng)電位再活化法（EPR）、電化學(xué)噪聲（EN）、電偶腐蝕測量（ZRA）、晶間腐蝕
電池測試：電池充放電測試、恒電流充放電
擴(kuò)展測量：圓盤電極測試
暫態(tài)極化：任意恒電位階梯波、任意恒電流階梯波、多電位階躍（VSTEP）、多電流階躍（ISTEP）
伏安分析：線性掃描伏安法（LSV）#、線性循環(huán)伏安法（CV）、
腐蝕測量：動(dòng)電位再活化法（EPR）、電化學(xué)噪聲（EN）、電偶腐蝕測量（ZRA）、晶間腐蝕
電池測試：電池充放電測試、恒電流充放電
擴(kuò)展測量：圓盤電極測試
環(huán)保在線