優(yōu)點(diǎn)

• 由異步電機(jī)實(shí)現(xiàn)的高精度測(cè)試頭控制
• 適用于不同樣品高度的自動(dòng)XYZ測(cè)試進(jìn)程
• 底臺(tái)和防護(hù)集成到機(jī)器設(shè)計(jì)中
• 固定式或可旋轉(zhuǎn)壓頭保護(hù)罩提供至大化的夾持
• 優(yōu)異的成像質(zhì)量
• 帶直觀3D控制元素的Qpix Control2軟件
• 僅適用于A+型號(hào): 帶有自動(dòng)圖像采集功能的全景攝像頭

• 全自動(dòng)宏觀硬度計(jì) A+ EVO

• 在超短時(shí)間內(nèi)獲得高度準(zhǔn)確的測(cè)試結(jié)果

• XLED布氏測(cè)量物鏡

  XLED照明模塊革新了布氏壓痕的分析。由于市售物鏡有限，軟材料的布氏壓痕尤其容易受到不準(zhǔn)確測(cè)量結(jié)果的影響。相比之下，由于直接和廣泛的照明，XLED鏡頭可確保材料的準(zhǔn)確和可重復(fù)測(cè)量，無(wú)論其類型與硬度如何。

• 優(yōu)異的成像質(zhì)量

  新EVO系列的光學(xué)系統(tǒng)已重新開(kāi)發(fā)。它在QATM的無(wú)塵車間內(nèi)建造并受益于公司全方面的專業(yè)知識(shí)。所有新的產(chǎn)品系列都共享同一個(gè)通用顯微鏡系統(tǒng)，在可視范圍0.1mm至8mm之間，都能提供至大的清晰度以及對(duì)比度。新的QATM照明系統(tǒng)可以確保整個(gè)圖片的照明均勻，而且無(wú)論選用哪個(gè)的放大倍數(shù)都沒(méi)有暗邊。

• ETHERNET工業(yè)彩色攝像頭

  具有以太網(wǎng)數(shù)據(jù)傳輸功能的高品質(zhì)CMOS 500萬(wàn)像素?cái)z像頭定義了當(dāng)前的工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。與其他相機(jī)系統(tǒng)不同，在此可以實(shí)現(xiàn)更高的傳輸穩(wěn)定性。此外，電腦和硬度測(cè)試設(shè)備可以遠(yuǎn)距離進(jìn)行遠(yuǎn)程設(shè)置。在控制基礎(chǔ)設(shè)施安裝在外部開(kāi)關(guān)柜里的制造環(huán)境中，這一切是理想的。

• 全自動(dòng)宏觀硬度計(jì) A+ EVO

• 便捷可靠

  全景攝像頭

  5百萬(wàn)彩色攝像頭可通過(guò) 的全景視場(chǎng)記錄整個(gè)樣品并在協(xié)議中進(jìn)行記錄，從而提供了 易用性。在CA+和A+版本中將整個(gè)工作臺(tái)表面記錄為全景圖像是標(biāo)準(zhǔn)配置。

• 邊緣識(shí)別

  邊緣識(shí)別包括當(dāng)使用項(xiàng)目和樣品模板時(shí)自動(dòng)將測(cè)試行起始點(diǎn)調(diào)整到樣品邊緣，該模塊顯著地提升了自動(dòng)化程度，是自動(dòng)捕捉功能的理想附加功能。

• 全自動(dòng)宏觀硬度計(jì) A+ EVO

• 便捷可靠

• 全自動(dòng)3軸控制

  全自動(dòng)、堅(jiān)固的XY載物臺(tái)帶有高精度定位驅(qū)動(dòng)。采用動(dòng)態(tài)操縱桿控制所有的3軸（XYZ)?？捎玫闹闻_(tái)面尺寸為 450 x 300 mm，或者按需求可定制大行程和大測(cè)試臺(tái)面。

• 不同的測(cè)試高度

  可以單獨(dú)選擇每個(gè)XY測(cè)試點(diǎn)位置的Z高度。在自動(dòng)測(cè)試期間，全自動(dòng)地在不同的試樣高度或不同的測(cè)試水平間切換。歸功于創(chuàng)新的CAS技術(shù)，可以保護(hù)設(shè)備免受沖撞。當(dāng)測(cè)試夾持樣品時(shí)，QATM的"工件識(shí)別”技術(shù)通過(guò)傳感器探測(cè)減少了測(cè)試頭的自動(dòng)接近速度（保護(hù)設(shè)備和樣品）。

• 至大化的夾持

  A/A+型號(hào)中的高性能感應(yīng)電機(jī)可實(shí)現(xiàn)至大3200kg的工件夾持力。 夾持力匹配測(cè)試方法，并自動(dòng)設(shè)置為大于測(cè)試力。

• 電動(dòng)旋轉(zhuǎn)壓頭保護(hù)罩

  僅適用于Qness 250 A/A+ EVO型號(hào): 對(duì)于洛氏或布氏硬度測(cè)試，用壓頭保護(hù)罩進(jìn)行工件夾持是的。然而對(duì)于通用的進(jìn)程，比如邊緣識(shí)別或在測(cè)試樣品編程期間，并不需要壓頭保護(hù)罩。因此，在創(chuàng)新的CVO系統(tǒng)中不同進(jìn)程間通過(guò)電動(dòng)控制幾秒鐘就可將保護(hù)罩升起或者放下。這提高了操作便利性并進(jìn)一步減少了測(cè)試周期時(shí)間。

• 相同樣品的硬度測(cè)試

  采用預(yù)先定義的樣品模板，可以激活所有相關(guān)的數(shù)據(jù)，包括測(cè)試序列點(diǎn)陣，測(cè)試方法和用戶注釋。QATM可提供適合每種要求的的夾持設(shè)置，模板和卡式系統(tǒng)。

全自動(dòng)宏觀硬度計(jì) A+ EVO

技術(shù)參數(shù)