創(chuàng)新的電子光學(xué)鏡筒，使電鏡擁有更加出色的超高分辨率

TESCAN S8000配置了的BrightBeam™鏡筒，實(shí)現(xiàn)了無磁場超高分辨成像，可以的實(shí)現(xiàn)各種分析，包括磁性樣品的分析。

新型鏡筒中的電子光路設(shè)計(jì)增強(qiáng)了低能量電子成像分辨率，特別適合對電子束敏感樣品和不導(dǎo)電樣品的分析。

另外，EquiPower™透鏡技術(shù)可有效減少能量損耗并保證電子鏡筒的穩(wěn)定性。

BrightBeam™電子光學(xué)鏡筒及探測器系統(tǒng)
（A）Axial detector (In-Beam)
（B）Multidetector (In-Beam)
（C）E-T detector (In-Chamber)
（D）Retractable BSE (In-Chamber)


配備的多種探測器，更好的表面靈敏度和對比度

S8000可配置的多種探測器，包括透鏡內(nèi)Axial detector 以及 Multidetector，

可選擇不同角度和不同能量來收集信號，體現(xiàn)更多種類的信息，同時獲得更好的表面靈敏度和對比度。

S8000 FE-SEM的優(yōu)點(diǎn)：

• 新一代鏡筒內(nèi)電子加速、減速技術(shù)，保證了復(fù)雜樣品的低電壓高分辨觀測能力
• 配置的靜電-電磁復(fù)合物鏡，物鏡無磁場外泄，實(shí)現(xiàn)磁性樣品高分辨成像及分析
• 配置4個新一代探測器，可實(shí)現(xiàn)9種圖像觀測，對樣品信息的采集更加全面
• 配置大型樣品室，有超過20個擴(kuò)展接口，為原位觀測、分析創(chuàng)造了良好的工作環(huán)境
• 可以配置TESCAN自有或第三方的多種擴(kuò)展分析附件，如EDS、EBSD、CL、EBL，并實(shí)現(xiàn)與Raman聯(lián)用