X射線測(cè)厚儀（XRF-2000）可用于測(cè)量一般工件、PCB及半導(dǎo)體產(chǎn)品的各鍍層厚度全自動(dòng)XYZ樣品臺(tái)，雷射自動(dòng)對(duì)焦、自動(dòng)對(duì)位；溫度補(bǔ)償；有競(jìng)爭(zhēng)力的價(jià)格；五個(gè)準(zhǔn)直器（0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.05x0.3mm）

X射線測(cè)厚儀（XRF-2000）測(cè)金機(jī)膜厚儀

　　X-射線鍍層測(cè)厚儀的特征： 
　　1.可測(cè)量電鍍、蒸鍍、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度。 
　　2.可通過(guò)CCD攝像機(jī)來(lái)觀察及選擇微小面積以進(jìn)行鍍層厚度的測(cè)量，避免直接接觸或破壞被測(cè)物。 
　　3.備有250個(gè)以上的鍍層厚度測(cè)量和成分分析時(shí)所需的標(biāo)準(zhǔn)樣品。 
　　 
　　韓國(guó)Micro Pioneer XRF-2000 系列

  （全新*）

　　XRF2000能提供金屬鍍層厚度的測(cè)量，同時(shí)可對(duì)電鍍液進(jìn)行分析，不單性能*，而且價(jià)錢*，同比其他牌子相同配置的機(jī)器，XRF2000為您大大節(jié)省成本。只需數(shù)秒鐘，便能非破壞性地得到準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果，甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任。全自動(dòng)XYZ樣品臺(tái)，鐳射自動(dòng)對(duì)焦系統(tǒng)，十字線自動(dòng)調(diào)整。超大／開(kāi)放式的樣品臺(tái)，可測(cè)量較大的產(chǎn)品。是線路板、五金電鍍、首飾、端子等行業(yè)的*。可測(cè)量各類金屬層、合金層厚度等。 
　　可測(cè)元素范圍：鈦（Ti）–鈾（U）原子序 22–92. 
　　準(zhǔn)直器：固定種類大?。嚎蛇x圓形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型1×0.4mm 
　　自動(dòng)種類大小：可選圓形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型0.05×0.4mm 
　　電腦系統(tǒng)：DELL品牌電腦，17寸液晶顯示器，惠普彩色打印機(jī) 
　　綜合性能：鍍層分析定性分析定量分析鍍液分析統(tǒng)計(jì)功能