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激光干涉膜厚測量儀

參考價(jià): ￥ 660

訂貨量: ≥1 件

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號(hào)Xper-IP

品牌

廠商性質(zhì)經(jīng)銷商

所在地上海市

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更新時(shí)間：2020-03-15 14:36:32瀏覽次數(shù)：1124次

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上海昊量光電設(shè)備有限公司

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商鋪產(chǎn)品：615條

所在地區(qū)：上海上海市

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產(chǎn)品簡介

加工定制	否

激光干涉膜厚測量儀*的光譜干涉技術(shù)的一款膜厚測量儀，是一種非接觸式、無損的、且快速的光學(xué)薄膜厚度測量設(shè)備。

詳細(xì)介紹

Xper-IP激光干涉膜厚測量儀是基于Nanobase公司*的光譜干涉技術(shù)的一款激光干涉膜厚儀，是一種非接觸式、無損的、且快速的光學(xué)薄膜厚度測量設(shè)備。Xper-IP可用于測量各種材料（如各種薄膜，鍍膜，顯示面板等）的厚度。

韓國Nanobase公司是一家專注于激光和光譜測量領(lǐng)域的高科技公司，旗下有多種產(chǎn)品，包括拉曼光譜成像系統(tǒng)，OCT光學(xué)相干斷層掃描系統(tǒng)，可調(diào)諧激光器和激光干涉薄厚測量儀。

Xper-IP激光干涉膜厚測量儀正是基于Nanobase*的光譜干涉技術(shù)的一款膜厚測量儀，是一種非接觸式、無損的、且快速的光學(xué)薄膜厚度測量設(shè)備。Xper-IP可用于測量各種材料（如各種薄膜，鍍膜，顯示面板等）的厚度，產(chǎn)品具有以下特點(diǎn)：

精度 ±0.2 %

重復(fù)準(zhǔn)度 ±0.003 %

超寬測量范圍 10 mm to 1 mm
人性化軟件，易于使用

性價(jià)比高

同時(shí)測量多層膜厚

結(jié)構(gòu)堅(jiān)固，適用于實(shí)驗(yàn)室和工業(yè)環(huán)境

參數(shù)

型號(hào)	Xper-ITP（激光干涉測厚）	Xper-ISP（激光干涉測表面形貌）
測量范圍	100-1000微米，200-2000微米，(或者定制波長范圍，與光譜儀分辨率成反比)
準(zhǔn)確度	±0.2 %
重復(fù)性	單點(diǎn)：0.01% full range（<100nm）平均：0.003% full range（<30nm）
速度	激光：標(biāo)準(zhǔn)30pps，（大100，000pps）
光源	激光：SLD(840nm)