詳細(xì)介紹
美國Electro-Tech Systems, Inc.公司的ETS 4406 (406D)靜電衰減測試儀,采用充電法測試材料靜電衰減性能, 將被測試材料固定在兩試樣夾之間, 利用高壓直流電源通過試樣夾給樣品材料充電, 當(dāng)樣品材料的電位不再上升后, 試樣夾接地, 通過正對樣品材料中心的非接觸式靜電電位計測量表面電位的衰減情況.
該靜電衰減性能測試儀(進(jìn)口)符合以下標(biāo)準(zhǔn):
美國無防布靜電衰減測試標(biāo)準(zhǔn)IST40.2(01)
美國聯(lián)邦標(biāo)準(zhǔn)FED-STD-101C
美國電子工業(yè)聯(lián)合會標(biāo)準(zhǔn)EIA-541
美國消防協(xié)會NFPA99標(biāo)準(zhǔn)
英國BS7506標(biāo)準(zhǔn)
中國科研一次性*標(biāo)準(zhǔn)GB 19082
靜電衰減性能測試儀(進(jìn)口)主要指標(biāo):
測試材料 按照 FTM Std. 101C, Method 4046
合乎靜電衰減要求:MIL-PRF-81705d,EIA-541&NFPA99
手動和自動設(shè)置
具備多種衰減比例選擇:50%。10%,1%
0.01 秒計時分辯率
系統(tǒng)自身測試設(shè)置
特殊電極應(yīng)對特定檢測
充電電壓: 0-5.5千伏
計時器量程:0-99.99s
顯示:指針式充電電壓表(左),指針式充電電壓表(右),數(shù)顯計時器(中),彩色led燈指示各個操作進(jìn)程。
自動測式次數(shù)1-9次
測試間隔時間: 1-25 秒
標(biāo)準(zhǔn)配置:
4406/406d 測試主機(jī)
法拉第測試籠容器
條型夾具/樣品支架
STM-2驗證摸塊
磁型固定電極