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日立白光干涉顯微鏡

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更新時間:2023-03-19 19:15:01瀏覽次數(shù):231次

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日立白光干涉顯微鏡搭配了符合ISO 25178標準的分析工具 “ISO 25178參數(shù)對比工具"。在ISO 25178標準中規(guī)定了評估表面性狀的32個項目的參數(shù),但在對比樣品時,選擇評估的參數(shù)很難,成為分析業(yè)務的難題?!癐SO 25178參數(shù)對比工具",通過按差異程度大小順序自動對測量的參數(shù)值進行依次排序,可輕松選出對比樣品的參數(shù),從而支持客戶的分析業(yè)務。 在半導體、汽車、食品、醫(yī)

日立白光干涉顯微鏡VS1800



日立科學公司于2019年3月起,在中國開始銷售利用光干涉原理

進行非接觸式無損傷三維表面形態(tài)測量的納米尺度3D光學干涉測量系統(tǒng)“VS1800",該產(chǎn)品搭配有支持多目的表面測量國際標準“ISO 25178*1參數(shù)對比工具",通過簡單而準確的樣品測量支持客戶的分析業(yè)務,與此同時,憑借不斷創(chuàng)新積累的三維測量性能,實現(xiàn)高精度、高分辨率的表面性狀的測量。

  此次發(fā)售的“VS1800"產(chǎn)品, 搭配了符合ISO 25178標準的分析工具 “ISO 25178參數(shù)對比工具"。在ISO 25178標準中規(guī)定了評估表面性狀的32個項目的參數(shù),但在對比樣品時,選擇評估的參數(shù)很難,成為分析業(yè)務的難題。“ISO 25178參數(shù)對比工具",通過按差異程度大小順序自動對測量的參數(shù)值進行依次排序,可輕松選出對比樣品的參數(shù),從而支持客戶的分析業(yè)務。 在半導體、汽車、食品、醫(yī)藥品等產(chǎn)業(yè)領域的材料研究和開發(fā)方面,為了提高產(chǎn)品的性能與功能,對產(chǎn)品表面的粗糙度、凸凹不平、翹曲等表面形狀的評估變得尤其重要。以往,表面形態(tài)的測量方法,一般是采用觸針式粗糙度測量儀等進行二維測量(線+高差),但近年來,伴隨著材料的薄膜化和微細構造化的加速,需要獲取更多的信息,因此,采用掃描型白光干涉顯微鏡*2和激光顯微鏡*3等進行三維測量(面+高差)便得到了靈活應用

    此次發(fā)售的“VS1800"產(chǎn)品, 搭配了符合ISO 25178標準的分析工具 “ISO 25178參數(shù)對比工具"。在ISO 25178標準中規(guī)定了評估表面性狀的32個項目的參數(shù),但在對比樣品時,選擇評估的參數(shù)很難,成為分析業(yè)務的難題。“ISO 25178參數(shù)對比工具",通過按差異程度大小順序自動對測量的參數(shù)值進行依次排序,可輕松選出對比樣品的參數(shù),從而支持客戶的分析業(yè)務。

此外,“VS1800" 產(chǎn)品,通過光干涉方法*4除了可實現(xiàn)大視野測量、0.01nm的垂直方向分辨率*5、高重現(xiàn)性外,亦通過日立科學自主研發(fā)的技術,繼承了多層膜的無損傷測量等傳統(tǒng)產(chǎn)品的高測量性能。此外,該產(chǎn)品還可搭配大傾斜角測量選配 "*6功能,通過捕捉大傾斜角斜面的微弱的干涉條紋變化,實現(xiàn)傳統(tǒng)的光干涉方式無法實現(xiàn)的大傾斜角斜面測量,從而應對多種多樣的樣品表面性狀的三維測量。

  日立集團擁有可實現(xiàn)極微細樣品的高分辨率測量的原子力顯微鏡、掃描電子顯微鏡直至大視野、高精度測量可能的“VS1800"產(chǎn)品陣容,提供表面分析解決方案,從而滿足客戶的廣泛需求。

*1 ISO 25178:規(guī)定表面形態(tài)評估方法的國際標準。

*2掃描型白色干涉顯微鏡:利用光干涉原理進行非接觸式、無損傷的表面形態(tài)測量的測量設備。

*3激光顯微鏡:將激光作為光源進行表面形態(tài)測量的測量設備。

*4光干涉方法:是利用兩列或兩列以上的光波相互疊加而出現(xiàn)光明暗(干涉條紋)現(xiàn)象(干涉)的檢查方法。

*5 0.01 nm的垂直方向分辨率為Phase模式時的性能。

*6“大傾斜角測量選配"為選擇項目。

【主要特點】

(1)高測量性能

?垂直方向分辨率:利用光干涉方法,通過獨自的算法,實現(xiàn)0.01 nm*的垂直方向分辨率

?重現(xiàn)性:利用干涉條紋測量凸凹的高度,通過將來自Z驅動機構的影響最小化,實現(xiàn)0.1 %以下的重現(xiàn)性

?測量速度無損傷測量:通過日立科學自主研發(fā)的技術,對玻璃和薄膜等透明多層結構樣品進行測量時,無需對樣品進行加工切割成截面,即可在無損傷的情況下,完成多層結構樣品的各層厚度或異物混入狀況的確認以及缺分析等 由于不需要樣品的前處理,只要將樣品放置在樣品臺上即可完成測量準備。通過光干涉方法5秒鐘即可完成測量

?測量視野:以從干涉條紋獲取的信息為基礎進行凸凹高度的測量,由此可實現(xiàn)廣范圍(One-shot6.4 mm×6.4 mm)測量與高垂直方向分辨率的兩者兼顧。此外,通過連接多個數(shù)據(jù)的圖像,可進一步實現(xiàn)廣范圍的分析

* Phase模式時

(2) 易于使用的操作界面

采用直觀易懂的操作界面,能夠輕而易舉地進行圖像分析處理前后的圖像對比,從而支持分析時的最合適圖像處理選擇。此外,可簡單地列出處理與分析的內容、創(chuàng)建獨自的分析參數(shù)、重復使用分析參數(shù)等,并且還可批量處理數(shù)據(jù),由此實現(xiàn)統(tǒng)一管理多個樣品和分析結果,減輕繁瑣復雜的后處理。

(3) ISO 25178參數(shù)對比工具

在對比多個樣品時,通過將ISO 25178標準中規(guī)定的32項參數(shù)值按差異的大小順序重新排列,從而在樣品對比時能夠輕松選取參數(shù),支持客戶的分析業(yè)務。

(4) 硬件升級

按每一臺XY樣品臺的驅動方式,設計了3個類型的產(chǎn)品,即基礎模式的手動型Type 1、電動型Type 2Type 3。從Type 1Type 2、Type 3,均可根據(jù)不同的用途進行升級。

日立科學儀器(北京)有限公司為您提供日立白光干涉顯微鏡VS1800的參數(shù)、價格、型號、原理等信息,日立白光干涉顯微鏡VS1800產(chǎn)地為日本、品牌為日立,型號為VS1800,價格為面議,更多相關信息可,公司客服電話7*24小時為您服務


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