型靈敏度試片Z先由日本無損檢測學會提出，以后為多個國家使用，主要用于零部件的磁粉探傷，在檢查中，對幾何形狀復雜，不同材質的工作，可以正確地選擇磁化規(guī)范，并可檢查探傷設備，磁粉和磁懸液的性能，在磁粉探傷操作過程中，可以避免漏檢，正確地知道探傷工作所需的電流峰值和方向，并對顯示缺陷的磁場強度有所估量A型靈敏度試片是磁粉探傷工作者*的調試工具。

詳細介紹

C型磁粉探傷標準靈敏度試片
C型靈敏度試片zui先由日本無損檢測學會提出，以后為多個國家使用，主要用于零部件的磁粉探傷，在檢查中，對幾何形狀復雜，不同材質的工作，可以正確地選擇磁化規(guī)范，并可檢查探傷設備，磁粉和磁懸液的性能，在磁粉探傷操作過程中，可以避免漏檢，正確地知道探傷工作所需的電流峰值和方向，并對顯示缺陷的磁場強度有所估量A型靈敏度試片是磁粉探傷工作者*的調試工具。

特點：
試片用于磁粉顯示，圖象直觀，使用簡便。對各類零件所有方向的磁場，尤其檢查部位狹小、形狀復雜的零件時，表現其*的優(yōu)點。
性能規(guī)格：
我公司生產的C型標準試片，是一種消耗的調整磁粉探傷靈敏度試片，它分為C1型和C2型，它可以在任何幾何形狀復雜的工件上探傷，尤其在焊縫的坡口面上及狹小部分，更能顯示它的優(yōu)點。 C型標準試片相當于A型試片中2#試片的靈敏度等同，它的磁化規(guī)范相當于8-10D，并可用作鑒定探傷設備、磁粉和磁懸液的性能，在磁粉探傷過程中，可以避免誤判或漏檢。C型標準靈敏度試片，是磁粉探傷工作者*的調試工具。
本套試片包括：C1：8/50μ C2：15/50μ 共六片，分兩組不同規(guī)格的試片組成

使用方法：
1、使用C1型時，沿者分割線，剪開為5x10mm的小片，使用適當的雙面膠帶，或者膠粘劑貼于試樣表面（雙面膠帶厚度要小于100μm）。
2、使用連續(xù)法，顯示磁痕，即是工件所需靈敏度。
3、使用C2型試片時，剪開C字為正，也可不剪開，以缺口為磁場方向，顯示痕跡，即是工件所需靈敏度。上述步驟完畢后，貼在工件表面上的試片，即可清楚顯示磁痕。