單點反射臺
該反射臺/探頭支架可以為直徑達150毫米的基片或者光學層進行遠距離和近距離反射測量。
它可容納光纖探頭和直徑達6.35mm的其它采樣光學器件，上下滑動不銹鋼柱可調節(jié)高度至樣品上約63.5mm的位置。它可以與顯微鏡或者電鏡的接口相連接，使光透射到光譜儀上,進行全光譜分析。
產品詳情
- 陽極氧化基臺上劃了多個直徑不同的同心圓，用于樣品定位
- 兼容直徑6.35mm（1/4″）的探頭
- 靈活 — 探頭可被定位在基臺以上63.5mm（2.5″）的位置
規(guī)格
工程規(guī)格 | STAGE |
芯片直徑： | 152.4mm |
采樣區(qū)直徑： | 101.6mm |
重量： | 620 g |
高度: | 橫桿可調至63.5mm高度 |
環(huán)保在線