超快熒光壽命光譜儀

該系列熒光壽命光譜儀專門為超快熒光壽命的測量而設(shè)計(jì)。在設(shè)計(jì)過程中，著重解決了傳統(tǒng)光路的構(gòu)架對待測超快信號的脈沖展寬效應(yīng)，從而大幅度提高了熒光壽命測量的精度。

該系列熒光光譜儀可以搭配不同的激發(fā)光源和探測器，以保證用戶獲得不同的熒光壽命測量范圍。

超快熒光壽命光譜儀主要技術(shù)特點(diǎn)：

- 熒光壽命測試范圍5ps至ms范圍（由激發(fā)光源與探測器決定）
- 采用*的時(shí)間相關(guān)單光子計(jì)數(shù)技術(shù)（TCSPC）進(jìn)行熒光壽命測量,具有zui高的測量精度
- 采用大尺寸樣品室，更便于對樣品的操作
- 運(yùn)用*的光路設(shè)計(jì),防止脈沖展寬并消除色散，使短壽命測試結(jié)果更加
- 光譜測量范圍可覆蓋紫外-可見-近紅外
- 可以與多種高重復(fù)頻率的飛秒或皮秒脈沖激光器配合使用,提高實(shí)驗(yàn)室已有設(shè)備的利用率
- 緊湊型一體化設(shè)計(jì),占用空間更小
- 便于操作的熒光壽命分析軟件

主要測量功能：

- 熒光壽命/瞬態(tài)光譜測試
- 時(shí)間分辨熒光光譜
- 準(zhǔn)穩(wěn)態(tài)光譜測試
- 全自動時(shí)間分辨各項(xiàng)異性光譜測量（需要電動偏振器選件）
- 溫度掃描過程中的熒光壽命及時(shí)間分辨熒光光譜測量（需選擇制冷機(jī)或TE制冷樣品架選件）

主要技術(shù)指標(biāo)：

- 光學(xué)結(jié)構(gòu): 激發(fā)光路與發(fā)射光路垂直
- 工作原理: 時(shí)間相關(guān)單光子探測
- 壽命范圍: ~5ps-50us
- 光譜帶寬: 1nm~40nm
- 時(shí)間色散: 零（運(yùn)用雙減單色儀）
- 光衰減器: 電腦控制連續(xù)可調(diào)衰減率
- 可選激發(fā)光源
皮秒脈沖半導(dǎo)體激光器 （多種波長可選）
皮秒脈沖LEDs （多種波長可選）
皮秒脈沖固體激光器
飛秒脈沖激光器 （可選配多種品牌和型號）
- 可選探測器
藍(lán)敏PMT 185~650nm
紅敏PMT 185~870nm
帶有微通道板PMT 200~850nm
近紅外PMT 300nm-1400/1700nm