詳細(xì)介紹
三級(jí)承試設(shè)備-自動(dòng)式介質(zhì)損耗測(cè)試儀
工作原理
在交流電壓作用下,電介質(zhì)要消耗部分電能,這部分電能將轉(zhuǎn)變?yōu)闊崮墚a(chǎn)生損耗。這種能量損耗叫做電介質(zhì)的損耗。當(dāng)電介質(zhì)上施加交流電壓時(shí),電介質(zhì)中的電壓和電流間存在相角差Ψ,Ψ的余角δ稱為介質(zhì)損耗角,δ的正切tgδ稱為介質(zhì)損耗角正切。tgδ值是用來(lái)衡量電介質(zhì)損耗的參數(shù)。儀器測(cè)量線路包括一標(biāo)準(zhǔn)回路(Cn)和一被試回路(Cx),如圖1所示。標(biāo)準(zhǔn)回路由內(nèi)置高穩(wěn)定度標(biāo)準(zhǔn)電容器與測(cè)量線路組成,被試回路由被試品和測(cè)量線路組成。測(cè)量線路由取樣電阻與前置放大器和A/D轉(zhuǎn)換器組成。
技術(shù)指標(biāo)
1、工作電源:AC 220V±10%、50Hz±1Hz
2、高壓輸出:0.5kV~10kV 每隔0.1kV
精 度:2%
大電流:200mA
容 量:2000VA
3、自激電源:AC 0V~50V/15A
45Hz/55Hz、55Hz/65Hz、47.5Hz/52.5Hz
4、分 辨 率:tgδ:0.001%
Cx:0.001pF
5、精 度:△tgδ:±(讀數(shù)*1.0%+0.040%)
△Cx:±(讀數(shù)*1.0%+1.00PF)
6、測(cè)量范圍:tgδ:無(wú)限制
Cx:15pF<Cx<300nF
10kV Cx<60 nF
5kV Cx<150nF
1kV Cx<300nF
CVT測(cè)試:Cx<300nF
7、CVT變比范圍:10~10000
8、CVT變比精度:0.1%
9、CVT變比分辨率:0.01
10、抗干擾原理:變頻法
11、存儲(chǔ)器大小:200組、支持U盤(pán)存儲(chǔ)數(shù)據(jù)
12、使用環(huán)境:-15℃~40℃、RH<80%
使用方法及注意事項(xiàng)
1、操作鍵盤(pán)
備用------不用。
快測(cè)-------快速測(cè)量,無(wú)抗干擾功能。
抗擾-------抗干擾測(cè)量。
正接-------正接法測(cè)量。
打印-------在測(cè)試結(jié)果出來(lái)后,打印測(cè)試數(shù)據(jù)。
反接-------反接法測(cè)量。
起動(dòng)-------起動(dòng)高壓,開(kāi)始測(cè)量。
外接-------外接法測(cè)量。也用來(lái)選擇外接標(biāo)準(zhǔn)電容的容量。
停止-------可以在測(cè)試過(guò)程中,中斷測(cè)量。
2、使用時(shí)必須將儀器接地端子可靠接地
三級(jí)承試設(shè)備-自動(dòng)式介質(zhì)損耗測(cè)試儀