電位分析儀表征單一體系納米尺度粒子
　　*解析納米粒子的物質(zhì)結(jié)構(gòu)
　　電位分析儀技術(shù)參數(shù)：
　　■  粒子直徑測定
　　●  超寬動態(tài)光散射測量范圍:　0.3nm～8000nm
　　●  通過采用與NEDO國家項目共同開發(fā)的相關(guān)器，實現(xiàn)高性能化。
　　●  在單一納米粒子光學(xué)系統(tǒng)中，采用更低雜散光90°檢測光學(xué)系統(tǒng)。
　　●  雙光路系統(tǒng)（90°和173°）適用于更寬濃度范圍的樣品測量，可以進(jìn)行釉漿、顏料等高濃度樣品以及膠束、聚合物等低濃度樣品的測定。
　　■  Zeta電位測定
　　●  通過安裝HORIBA自主研發(fā)的標(biāo)準(zhǔn)微型樣品池，可以測定僅100μL的樣品。
　　■  主要特點：
　　●  超小體積設(shè)計
　　●  可測納米粒子的三個重要要素——粒子直徑、Zeta電位和分子量。
　　●  樣品濃度從PPM到百分之幾十，SZ-100都能在原液狀態(tài)下取樣和測定。
　　●  HORIBA自主研發(fā)的微量電泳樣品池， 可以測定僅100μL的Zeta電位。
　　●  廣泛應(yīng)用于膠質(zhì)粒子、 機(jī)能性納米粒子、 高分子、膠束、 核糖體、 納米囊等的測定。
　　●  操作簡單，進(jìn)樣、設(shè)定參數(shù)后，只要按開始按鈕即可得到測量結(jié)果。