1、磁導(dǎo)率的測試儀器功能

   磁導(dǎo)率的測量是間接測量，測出磁心上繞組線圈的電感量，再用公式計(jì)算出磁心材料的磁導(dǎo)率。所以，磁導(dǎo)率的測試儀器就是電感測試儀。在此強(qiáng)調(diào)指出，有些簡易的電感測試儀器，測試頻率不能調(diào)，而且測試電壓也不能調(diào)。例如某些電橋，測試頻率為100Hz或1kHz，測試電壓為0.3V，給出的這個(gè)0.3V并不是電感線圈兩端的電壓，而是信號發(fā)生器產(chǎn)生的電壓。至于被測線圈兩端的電壓是個(gè)未知數(shù)。如果用高*的儀器測量電感，例如 Agilent 4284A  精密LCR測試儀，不但測試頻率可調(diào)，而且被測電感線圈兩端的電壓及磁化電流都是可調(diào)的。了解測試儀器的這些功能，對磁導(dǎo)率的正確測量是大有幫助的。

2、 材料磁導(dǎo)率的測量方法和原理

   說起磁導(dǎo)率μ的測量，似乎非常簡單，在材料樣環(huán)上隨便繞幾匝線圈，測其電感，找個(gè)公式一算就完了。其實(shí)不然，對同一只樣環(huán)，用不同儀器，繞不同匝數(shù)，加不同電壓或者用不同頻率都可能測出差別甚遠(yuǎn)的磁導(dǎo)率來。造成測試結(jié)果差別極大的原因，并非每個(gè)測試人員都有精力搞得清楚。本文主要討論測試匝數(shù)及計(jì)算公式不同對磁導(dǎo)率測量的影響。

2.1 計(jì)算公式的影響

大家知道，測量磁導(dǎo)率μ的方法一般是在樣環(huán)上繞N匝線圈測其電感L，因?yàn)榭赏频肔的表達(dá)式為：

L=μ0 μN(yùn) 2A/l                                       (1)

所以，由(1)式導(dǎo)出磁導(dǎo)率 的計(jì)算公式為：

μ=Ll/μ0N 2A                                    (2)

式中：l為磁心的磁路長度，A為磁心的橫截面積。

對于具有矩形截面的環(huán)型磁芯，如果把它的平均磁路長度l=π(D+d)/2就當(dāng)作磁心的磁路長度l，把截面積A=h(D-d)/2，μ0=4π×10-7都代入(2)式得：

     μ＝L(D+d)*107/4N2h(D-d)                                                 (3)

式中，D為環(huán)的外直徑，d為內(nèi)徑，h為環(huán)的高度，如圖2所示。把環(huán)的內(nèi)徑d=D-2a代入(3)式得：

     μ＝L(D-a)*107/4N2ha                           (4)

式中：a為環(huán)的壁厚。

對于內(nèi)徑較小的環(huán)型磁心，內(nèi)徑不如壁厚容易測量，所以用(4)式比較方便。(4)式與(3)式是等效的，它們的由來是把環(huán)的平均磁路長度當(dāng)成了磁心的磁路長度。用它們計(jì)算出來的磁導(dǎo)率稱為材料的環(huán)磁導(dǎo)率。有人說用環(huán)型樣品測量出來的磁導(dǎo)率就叫環(huán)磁導(dǎo)率，這種說法是不正確的。實(shí)際上，環(huán)磁導(dǎo)率比材料的真實(shí)磁導(dǎo)率要偏高一些，且樣環(huán)的壁越厚，誤差越大。

對于樣環(huán)來說，在相同安匝數(shù)磁動勢激勵(lì)下，磁化場在徑向方向上是不均勻的。越靠近環(huán)壁的外側(cè)面，磁場就越弱。在樣環(huán)各處磁導(dǎo)率μ不變的條件下，越靠近環(huán)壁的外側(cè)，環(huán)的磁通密度B就越低。為了消除這種不均勻磁化對測量的影響，我們把樣環(huán)看成是由無窮多個(gè)半徑為r，壁厚無限薄為dr的薄壁環(huán)組成。根據(jù)(1)式，可寫出每個(gè)薄壁環(huán)產(chǎn)生的電感dL為：(5)

由(5)式對r從內(nèi)半徑r1到外半徑r2積分，既得到整個(gè)樣環(huán)產(chǎn)生的電感L：(6)

由(6)式導(dǎo)出計(jì)算磁導(dǎo)率的精*公式為：(7)

為了便于實(shí)際應(yīng)用，可把(7)式化為；(8)

上式中：D為樣環(huán)外徑，d為內(nèi)徑。把自然對數(shù)換為常用對數(shù)，(8)式被化為： (9)

如果樣環(huán)是由同一種材料組成，則用(7)、(8)或(9)式計(jì)算出來的磁導(dǎo)率就是其材料的真正磁導(dǎo)率μ。它比其環(huán)磁導(dǎo)率略低一些。

2.2 測試線圈匝數(shù)N的影響

由于電感L與匝數(shù)N?2成正比，按理說用(9)式計(jì)算出來的磁導(dǎo)率μ不應(yīng)該再與匝數(shù)N有關(guān)系，但實(shí)際上卻經(jīng)常有關(guān)系。

關(guān)于材料磁導(dǎo)率的測量，一般使用的測試頻率都不高，經(jīng)常在1kHz或10kHz的頻率測試。測試信號一般都是使用正弦信號，因?yàn)轭l率不高，樣環(huán)繞組線圈阻抗的電阻部分可忽略不計(jì)，把繞組線圈看作一個(gè)純電感L接在測量儀器上。測試等效電路如圖所示，儀器信號源產(chǎn)生的電壓有效值為U，Ri為信號源的輸出阻抗。由圖3很容易寫出磁化電流的表達(dá)式：

上式中，ω為儀器信號源的角頻率，L為樣環(huán)繞組線圈的電感。

L=μ0μN(yùn)2Ae /le     (11)

(11)中，Ae為磁心的有效截面積，le為磁心的有效磁路長度。如果把環(huán)型磁心的Ae和le代入，(11)式就會變?yōu)榕c(6)式的結(jié)果相同。

測試電流*生的有效磁場強(qiáng)度峰值Hm為：(12)

把(10)式和(11)式都代入(12)式得到：(13)

由(13)式可知，當(dāng)(ωμ0μAe)2N4遠(yuǎn)小于le2Ri2時(shí)，(13)式可近似為： (14)

上式告訴我們，測試線圈匝數(shù)很少時(shí)，測試磁場強(qiáng)度與匝數(shù)成正比。隨著匝數(shù)的增多，當(dāng)達(dá)到(ωμ0μAe)2N?4遠(yuǎn)大于le2Ri2時(shí)，(13)式可近似為：(15)

由(15)式可知，測試線圈匝數(shù)太多時(shí)，測試磁場強(qiáng)度又會與匝數(shù)成反比。

從以上分析得知，測量磁導(dǎo)率時(shí)，樣環(huán)中的磁化場強(qiáng)度與測試線圈的匝數(shù)有關(guān)，當(dāng)匝數(shù)為某一定值時(shí)磁場強(qiáng)度就會達(dá)到*值。而材料的磁導(dǎo)率又與磁化場強(qiáng)密切相關(guān)，所以導(dǎo)致磁導(dǎo)率的測量與測試線圈匝數(shù)有關(guān)?，F(xiàn)在結(jié)合圖具體討論匝數(shù)對磁導(dǎo)率測試的影響。

2.2.1測試電壓U較低的情況

如前所述，對于高*儀器，如Agilent 4284A精密LCR 測試儀，它的測試電壓可以調(diào)得極低，以至于測試磁場強(qiáng)度隨匝數(shù)的變化達(dá)到*時(shí)，仍然沒有超出磁導(dǎo)率的起始區(qū)。這時(shí)測得的總是材料的起始磁導(dǎo)率μi，它與測試線圈匝數(shù)N無關(guān)。用同一臺儀器，如果把測試電壓調(diào)得比較高，不能再保證不同匝數(shù)測得的磁導(dǎo)率都是起始磁導(dǎo)率，這時(shí)所測得的磁導(dǎo)率又會與測試線圈匝數(shù)有關(guān)了。

2.2.2 測試電壓U不能調(diào)的情況

絕大多數(shù)測量電感的簡便儀器，其測試電壓和頻率都不能靈活調(diào)節(jié)。如 2810 LCR電橋，其測試頻率為100Hz或1kHz，測試電壓小于0.3V。由于這種儀器的測試電壓。