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當(dāng)前位置：北京錦正茂科技有限公司>>產(chǎn)品展示>>探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)
實(shí)驗(yàn)室氣氛型高溫真空探針臺(tái)根據(jù)樣品材料，形狀不同可選擇探針，插拔等多種安裝測(cè)試方式。
錦正茂高低溫真空探針臺(tái)高低溫真空環(huán)境下的芯片測(cè)試，材料測(cè)試，霍爾測(cè)試，電磁輸運(yùn)特性等。實(shí)驗(yàn)室半導(dǎo)體測(cè)量 高低溫真空探針臺(tái)
錦正茂實(shí)驗(yàn)室設(shè)備氣氛型高溫探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)真空度：10E-3Pa；提供真空抽口*1、氣體入口*1、氣體出口*1、真空釋放口*1；
實(shí)驗(yàn)室設(shè)備高低溫真空探針臺(tái)T81-50 低溫防輻射屏設(shè)計(jì)，樣品臺(tái)采用高純度無氧銅制作，溫度均勻性更好。
實(shí)驗(yàn)室半導(dǎo)體測(cè)量室溫探針臺(tái)JZM-D30技術(shù)參數(shù)：①磁場(chǎng)型號(hào):EM3加長版②電源型號(hào):JP10-40，優(yōu)于50ppm③磁場(chǎng)值:1000Gs@60mm間距④磁場(chǎng)分...
實(shí)驗(yàn)室材料測(cè)試分析儀器高溫探針臺(tái)可在真空環(huán)境下對(duì)樣品進(jìn)行光學(xué)，電學(xué)測(cè)試，可在真空環(huán)境下對(duì)樣品進(jìn)行光學(xué)，電學(xué)測(cè)試，
半導(dǎo)體材料測(cè)量設(shè)備室溫探針臺(tái)磁場(chǎng)型號(hào):EM3加長版，電源型號(hào):JP10-40，優(yōu)于50ppm，磁場(chǎng)值:1000Gs@60mm間距
芯片測(cè)試，材料測(cè)試探針臺(tái)高低溫真空芯片測(cè)試，材料測(cè)試，霍爾測(cè)試，電磁輸運(yùn)特性等。
定制 氣氛型高溫探針臺(tái) 標(biāo)配鉑電阻溫度計(jì)快速實(shí)現(xiàn)室溫-200℃環(huán)境的控溫，可在真空環(huán)境下對(duì)樣品進(jìn)行光學(xué)，電學(xué)測(cè)試。
半導(dǎo)體測(cè)量實(shí)驗(yàn)臺(tái)高低溫真空環(huán)境探針臺(tái)可選配件：各類DC探針、高頻探針、主動(dòng)式探針、電纜線等
半導(dǎo)體測(cè)量高精度實(shí)驗(yàn)臺(tái)室溫探針臺(tái)DC9V電源適配器插入220VAC插座，高斯計(jì)即可上電工作，此時(shí)高斯計(jì)前面板紅色指示燈閃爍，液晶屏顯示磁場(chǎng)數(shù)據(jù)。
材料測(cè)量實(shí)驗(yàn)臺(tái)高低溫真空環(huán)境探針臺(tái)錦正茂高低溫真空探針臺(tái)支持光纖光譜特性測(cè)試，
高低溫真空環(huán)境實(shí)驗(yàn)臺(tái)半導(dǎo)體測(cè)量探針臺(tái)自動(dòng)流量控制，材料/器件的IV/CV特性測(cè)試等。
氣氛型高溫探針臺(tái)樣品進(jìn)行光學(xué)，電學(xué)測(cè)試根據(jù)樣品材料，形狀不同可選擇探針，插拔等多種安裝測(cè)試方式。
定制氣氛型高溫探針臺(tái)真空環(huán)境電學(xué)測(cè)量快速實(shí)現(xiàn)室溫-200℃環(huán)境的控溫，可在真空環(huán)境下對(duì)樣品進(jìn)行光學(xué)，電學(xué)測(cè)試。
定制探針臺(tái)高低溫真空環(huán)境材料測(cè)量錦正茂高低溫真空探針臺(tái)應(yīng)用于高低溫真空環(huán)境下的芯片測(cè)試，材料測(cè)試，霍爾測(cè)試，電磁輸運(yùn)特性等。
氣氛型高溫探針臺(tái)快速控溫光學(xué)電學(xué)測(cè)試可在真空環(huán)境下對(duì)樣品進(jìn)行光學(xué)，電學(xué)測(cè)試，測(cè)試中也可實(shí)現(xiàn)惰性氣體的快速充放。
多維磁場(chǎng)實(shí)驗(yàn)裝置半導(dǎo)體材料測(cè)試探針臺(tái)廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體工業(yè)、MEMS 、超導(dǎo)、電子學(xué)、鐵電子學(xué)、物理學(xué)、材料學(xué)和生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域。
定制實(shí)驗(yàn)室探針臺(tái)高低溫真空探針測(cè)試系統(tǒng)錦正茂高低溫真空探針臺(tái)應(yīng)用于高低溫真空環(huán)境下的芯片測(cè)試，材料測(cè)試，霍爾測(cè)試，電磁輸運(yùn)特性等。
氣氛型高溫探針臺(tái)材料電學(xué)光學(xué)測(cè)試實(shí)驗(yàn)臺(tái)快速實(shí)現(xiàn)室溫-200℃環(huán)境的控溫，可在真空環(huán)境下對(duì)樣品進(jìn)行光學(xué)，電學(xué)測(cè)試
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