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環(huán)境可控原子力顯微鏡

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產(chǎn)品型號(hào)加熱冷卻臺(tái)/*Nanonavi E-Sweep

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更新時(shí)間：2022-03-30 13:53:50瀏覽次數(shù)：181次

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

性能指標(biāo)掃描范圍180um180um5um可測(cè)樣品大小直徑30mm、厚度10mm縱向分辨率0.02nm橫向分辨率小于1nm主要應(yīng)用固體材料表面微觀形貌、大小、厚度和粗糙度的表征

詳細(xì)介紹

性能指標(biāo)

主要應(yīng)用

樣品要求

樣品大小2.5×2.5cm，厚度最厚1cm;若在變溫下測(cè)試，樣品大小1×1cm,厚度小于2mm
樣品上下表面整潔，沒(méi)有油漬灰塵等污染物
儀器掃描范圍180×180×5um
若是納米顆粒樣品，先用一定的分散劑超聲分散后，取一滴在云母等很平整的基底上，干燥后測(cè)試。若沒(méi)有云母片，請(qǐng)?jiān)跍y(cè)試前到本實(shí)驗(yàn)室來(lái)取。
如果樣品表面有無(wú)機(jī)鹽，先用水等清除鹽分后來(lái)測(cè)試，因?yàn)辂}分結(jié)晶影響形貌的掃描。
如果是要測(cè)試薄膜厚度，預(yù)先把薄膜和基底作出一個(gè)邊界清楚的臺(tái)階。
檢測(cè)項(xiàng)目：

1、基本形貌

2、力曲線(xiàn)，粘附力

3、相圖，磁疇，STM，納米刻蝕，納米操縱，摩擦性能

4、導(dǎo)電性能

儀器說(shuō)明

環(huán)境可控掃描探針顯微鏡能夠在變溫真空條件下實(shí)現(xiàn)樣品表面納米結(jié)構(gòu)的原位測(cè)量,為研究不同溫度氣氛下的結(jié)構(gòu)變化提供了重要的條件.

關(guān)鍵詞：顯微鏡

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