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更新時(shí)間:2021-06-15 16:28:52瀏覽次數(shù):308次
聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來自 環(huán)保在線SOC710CR高光譜文物成像系統(tǒng)具有*的內(nèi)置推掃技術(shù)、雙CCD可預(yù)覽、一鍵式測(cè)量等特點(diǎn),可提供實(shí)驗(yàn)室暗箱、實(shí)驗(yàn)室平臺(tái)及顯微測(cè)量等多種操作模式。后期光譜提取與特征提取等技術(shù)可上滿足用戶的需求,在文物保護(hù)、修復(fù)、真?zhèn)巫R(shí)別等方面具有重要作用。
SOC710CR高光譜文物成像系統(tǒng)
目前文物鑒定的傳統(tǒng)方法中很多是有損或微損的,需取樣才能分析;而且,有損測(cè)試的分析結(jié)果只局限于測(cè)試點(diǎn)或取樣點(diǎn),而不能*代表未測(cè)試部位的信息。高光譜成像技術(shù)能同時(shí)提供待測(cè)物整體的圖像和光譜信息,可以對(duì)目標(biāo)物進(jìn)行高光譜識(shí)別和分類;其具有快速測(cè)量、能進(jìn)行精細(xì)分類與識(shí)別等優(yōu)點(diǎn),且對(duì)文物無損傷,在文物分析領(lǐng)域具有廣闊的應(yīng)用前景。
SOC710CR高光譜文物成像系統(tǒng)具有*的內(nèi)置推掃技術(shù)、雙CCD可預(yù)覽、一鍵式測(cè)量等特點(diǎn),可提供實(shí)驗(yàn)室暗箱、實(shí)驗(yàn)室平臺(tái)及顯微測(cè)量等多種操作模式。后期光譜提取與特征提取等技術(shù)可上滿足用戶的需求,在文物保護(hù)、修復(fù)、真?zhèn)巫R(shí)別等方面具有重要作用。
400-1000nm 探測(cè)器1392*1040 內(nèi)置式推掃 可直接顯微成像 雙CCD可預(yù)覽 自動(dòng)暗電流 自動(dòng)曝光時(shí)間 可快速安裝 |
※ 快速無損獲取高光譜圖像信息,數(shù)據(jù)真實(shí)可靠
※ 雙CCD設(shè)計(jì),直接預(yù)覽測(cè)量區(qū)域,所見即所得
※ 內(nèi)置式掃描,圖像無畸變,自動(dòng)扣除暗電流
※ 不僅可獲取目標(biāo)反射率,還可獲取輻亮度值
※ 可自動(dòng)連續(xù)測(cè)量,監(jiān)測(cè)目標(biāo)光譜動(dòng)態(tài)變化
※ 軟件自帶數(shù)據(jù)標(biāo)定、高光譜分類等多種功能
※ 軟件實(shí)時(shí)分析,光譜提取、光譜分類與結(jié)果輸出
※ 可滿足暗箱系統(tǒng)-室內(nèi)實(shí)驗(yàn)臺(tái)-顯微鏡等多種使用條件
SOC710CR高光譜文物成像系統(tǒng)應(yīng)用案例:
產(chǎn)地:美國
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