公司介紹：

NTT-AT有著多年的X射線、極紫外光學(xué)配件的研發(fā)與銷售經(jīng)驗(yàn)。在范圍內(nèi)，通過與眾多來自同步輻射科學(xué)，阿秒科學(xué)，高強(qiáng)度物理學(xué)等領(lǐng)域的科學(xué)研究者開展緊密合作，積累了大量*的設(shè)計(jì)與制造技術(shù)，其產(chǎn)品在業(yè)內(nèi)享有很高的評價(jià)。NTT-AT提供的菲涅爾波帶片有著高分辨率，高聚光效率等特點(diǎn)，適合被各種輻射光設(shè)施使用。另外，分辨率測試卡被當(dāng)作業(yè)界的標(biāo)準(zhǔn)。不只是學(xué)術(shù)研究，在X射線的檢查裝置開發(fā)現(xiàn)場也被廣泛使用。XUV鏡片，XUV濾波片不僅對阿秒科學(xué)有著幫助，對下一代的光刻研究也有這重要作用。NTT-AT將在XUV,EUV, X線領(lǐng)域給予客戶在研發(fā)上的幫助。

產(chǎn)品介紹：

用于X射線分析的分辨率評估圖的事實(shí)上的標(biāo)準(zhǔn)

優(yōu)點(diǎn)

恩梯梯技術(shù)公司的X射線分辨率評估圖被應(yīng)用于X射線顯微鏡、X射線微光束分析和X射線成像等需要超高分辨率的X射線分析。此已成為事實(shí)上標(biāo)準(zhǔn)的X射線圖被廣泛應(yīng)用于世界上許多地方。
恩梯梯技術(shù)公司的X射線圖的特點(diǎn)是高耐X射線輻射性、超清晰圖案和低邊緣粗糙度。本公司基于Ta吸收體圖的SiC膜極其精確，能為用戶的X射線分析系統(tǒng)評估提供清晰的圖像。
您不嘗試一下這事實(shí)上標(biāo)準(zhǔn)的性能嗎？

特點(diǎn)：

有三種X射線圖可應(yīng)用于各種方面：標(biāo)準(zhǔn)型、高分辨率和高對比度型以及超高分辨率型。可為用戶的系統(tǒng)定制圖案布局和基板尺寸。