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非接觸式單點金屬測厚儀EddyCus TF lab 2020MT

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更新時間：2022-05-22 09:09:12瀏覽次數(shù)：373次

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產品簡介

非接觸式單點金屬測厚儀EddyCusTFlab2020MT產品簡介EddyCusTFlab2020MT允許對透明和非透明層進行非接觸式金屬厚度測量

詳細介紹

非接觸式單點金屬測厚儀EddyCus TF lab 2020MT

產品簡介

EddyCus® TF lab 2020MT 允許對透明和非透明層進行非接觸式金屬厚度測量。使用非接觸式渦流傳感器進行測量。它實時確定具有已知或（相當）恒定電導率的材料的金屬厚度。這種非接觸式測試技術可以在很寬的厚度范圍內進行精確測量，從幾納米厚度開始，一直到厚金屬片材和板材的表征。該技術還能夠表征被非導電材料覆蓋的金屬層。 SURAGUS 為非常薄的層以及非常厚的金屬和普通合金提供材料特定的設置。該測量方法非常穩(wěn)健，具有高重復性和高精度。此外，它不需要任何光學透明度，也不需要物理接觸。因此，它用于快速測試或系統(tǒng)質量保證的廣泛應用。

產品優(yōu)勢

軟件和設備控制

非常人性化的軟件
直觀的觸摸顯示屏導航
實時測量薄層電阻和層厚
軟件輔助手動映射選項
各種數(shù)據(jù)保存和導出選項

技術參數(shù)

測量技術	非接觸式渦流傳感器
基質	箔、玻璃、晶片等。
基底面積	8英寸/ 204毫米x 204毫米(三面開口)
大值樣品厚度/傳感器間隙	3 / 5 / 10 / 25毫米(由厚的樣品確定)
金屬厚度范圍精度取決于所選的設置和類型/ 金屬的導電性(例如銅、鋁、銀)	低1–10納米；2–5%的精確度標準10-1000納米；1–3%的精確度高1–100米；0.5–3%的精度
金屬厚度校準	直接厚度校準/薄層電阻轉換
設備尺寸(寬高比)	11.4英寸x 5.5英寸x 17.5英寸/ 290毫米x 140毫米x 445毫米
重量	10公斤
其他可用功能/其他工具配置	薄層電阻測量/電導率/電阻率/電各向異性/滲透率(β)