儀器用途： CW400LMDT顯微鏡可進行明視場、暗視場、簡易偏光觀察。是半導體檢驗、電路封裝、電路基板、材料等行業(yè)理想的儀器。暗視場光學效果對材料表面缺陷或凹凸類表面形貌有特殊表現(xiàn)力。本儀器配置大視野目鏡和長工作距離平場消色差物鏡(無蓋玻片)，視場大而清晰， 粗微動同軸調焦機構，粗動松緊可調，帶限位鎖緊裝置，微動格值:0.8μm，三目鏡筒,可自由切換正常觀察/偏光觀察,明視場/暗視場觀察. 可進行99%透光攝影。 技術參數： １、鏡筒：鉸鏈式雙目頭部，30°傾斜，主機含三目鏡筒（T）， ２、攝影時可99%通光，適合暗視場顯微圖像拍攝 ３、大視野高眼點目鏡：WF10XΦ22mm，單視度可調 ４、明暗場專用無窮遠長工作距離平場物鏡： PL L 5X/0.12 B.D 工作距離(Work distance)：9.7 mm PL L10X/0.25 B.D 工作距離(Work distance)：9.3 mm PL L20X/0.40 B.D 工作距離(Work distance)：7.2 mm PL L40X/0.70 B.D 工作距離(Work distance)：2.5mm ５、轉換器：五孔 ６、總放大倍數：50X-800X ７、工作臺：三層機械移動平臺，尺寸210mm×140mm，移動范圍75mmX50mm ８、調焦：粗微動同軸，升降范圍25mm，微動格值0.0008mm，帶松緊和限位裝置 ９、透射照明：鹵素燈12V30W，亮度可調，加裝有散熱片 １０、 反射照明：鹵素燈12V50W，亮度可調，帶偏振片，翻蓋式燈箱，更換燈泡方便安全 １１、 正交偏光裝置 ：內置式可切換偏光觀察裝置，起偏器可360°旋轉 |
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