環(huán)境老化測(cè)試步入式高溫試驗(yàn)箱是針對(duì)所有工業(yè)產(chǎn)品包括電子產(chǎn)品、電源電池、電腦、通訊、光電、LED、主板機(jī)、監(jiān)視器、掃描器、生物制藥、化工仿真出一種高溫惡劣環(huán)境測(cè)試的大型試驗(yàn)設(shè)備，是提高產(chǎn)品性能穩(wěn)定性、可靠性的重要檢測(cè)設(shè)備、是各生產(chǎn)企業(yè)實(shí)驗(yàn)室及品質(zhì)部提高產(chǎn)品質(zhì)量和競(jìng)爭(zhēng)性的重要手段，該老化房適合范圍非常廣泛，而且溫度范圍及尺寸大小均可定制。

環(huán)境老化測(cè)試步入式高溫試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)：

1、內(nèi)容積:6M3、8M3、10M3、12M3、15M3、18M3、20M3、30M3、50M3、(除了這些容積，更大或者更小的均可來電定制）

2、內(nèi)室尺寸與外型尺寸：以客戶的測(cè)試件所需尺寸或場(chǎng)地等需求定制合理的內(nèi)外尺寸，建議雙方電談或者面談了解清楚實(shí)際需求再確定具體所需尺寸，能有效節(jié)約成本及滿足實(shí)際需要。

3、溫度范圍：RT～85 ℃或更高請(qǐng)致電說明。

4、（單/雙)開門選擇，如雙：W（800+800）mm×H1900mmW；（ 可依客戶要求選擇或定制）

5、滿足標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 5170.2-2008 溫度試驗(yàn)設(shè)備、GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007) 高溫試驗(yàn)方法Bb、GJB150.3-1986   高溫試驗(yàn)、GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗(yàn)方法、GJB360.8-87(MIL-STD-202f)高溫壽命試驗(yàn)。

6、工作噪音：A聲級(jí)≤70dB(A) (在環(huán)溫25℃，回聲少的隔音室內(nèi)測(cè)得；采用A計(jì)權(quán)，測(cè)試8個(gè)點(diǎn)的平均值；各測(cè)試點(diǎn)水平離噪音源1米、高度離地面1米)

7、溫度波動(dòng)：溫度：≤±0.5℃  （指控制器設(shè)定值和控制器實(shí)測(cè)值之差）

8、溫度均勻度：溫度：≤2.0℃（均勻度為每次空載測(cè)試中實(shí)測(cè)高溫度和低溫度之差的算術(shù)平均值）

9、溫度升溫時(shí)間：約40min