阿貝比長儀 |
產(chǎn)品簡要介紹:在天文工作中﹐用于測量底片上譜線間的距離。比長儀的量程200毫米﹐測量精度可達±1.5微米。儀器分三部分﹕精密導軌。置片臺﹐是一塊可沿導軌移動的鋼板﹐它的一側(cè)裝著一條透明毫米尺﹐另一側(cè)放待測底片。兩架固定聯(lián)結(jié)的顯微鏡﹕一架用來對物體﹐稱為對準顯微鏡﹔另一架用來對準毫米尺上的刻線和讀數(shù)﹐稱為讀數(shù)顯微鏡。移動置片臺﹐當對準顯微鏡從對準一條譜線到另一條譜線時﹐讀數(shù)顯微鏡對準的毫米尺上的二次讀數(shù)之差﹐即為譜線間的距離。根據(jù)阿貝提出的原理﹐只要待測對象和毫米尺精確地位于同一高度﹐置片臺的滑動誤差就不會影響測量精度。為了消除對準誤差﹐可將底片轉(zhuǎn)180°再測量一遍。熟練的測量者用這種儀器測量不對稱的譜線﹐精度往往比自動測量儀器還高。用比長儀測量底片上待測譜線和比較譜線的位置﹐根據(jù)經(jīng)驗公式就可以計算出待測譜線的波長。 |
在天文工作中﹐用于測量底片上譜線間的距離。比長儀的量程200毫米﹐測量精度可達±1.5微米。儀器分三部分﹕精密導軌。置片臺﹐是一塊可沿導軌移動的鋼板﹐它的一側(cè)裝著一條透明毫米尺﹐另一側(cè)放待測底片。兩架固定聯(lián)結(jié)的顯微鏡﹕一架用來對物體﹐稱為對準顯微鏡﹔另一架用來對準毫米尺上的刻線和讀數(shù)﹐稱為讀數(shù)顯微鏡。移動置片臺﹐當對準顯微鏡從對準一條譜線到另一條譜線時﹐讀數(shù)顯微鏡對準的毫米尺上的二次讀數(shù)之差﹐即為譜線間的距離。根據(jù)提出的原理﹐只要待測對象和毫米尺精確地位于同一高度﹐置片臺的滑動誤差就不會影響測量精度。為了消除對準誤差﹐可將底片轉(zhuǎn)180°再測量一遍。熟練的測量者用這種儀器測量不對稱的譜線﹐精度往往比自動測量儀器還高。用比長儀測量底片上待測譜線和比較譜線的位置﹐根據(jù)經(jīng)驗公式就可以計算出待測譜線的波長。 |
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