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單通道紫外輻照計HCJC-FZ62

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更新時間：2022-10-01 17:34:58瀏覽次數(shù)：225次

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華長(吉林)科技有限公司

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產(chǎn)品簡介

簡要描述：單通道紫外輻照計HCJC-FZ62采用SMT貼片技術(shù)，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設(shè)計，探測器經(jīng)過嚴格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強。該儀器適用于光化學(xué)、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測量工作。

詳細介紹

一、單通道紫外輻照計HCJC-FZ62產(chǎn)品介紹：

紫外輻照計采用SMT貼片技術(shù)，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設(shè)計，探測器經(jīng)過嚴格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強。該儀器適用于光化學(xué)、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測量工作。

二、單通道紫外輻照計HCJC-FZ62產(chǎn)品參數(shù)

1、波長范圍及峰值波長：(以下兩種選其一)

（1）UV-420探頭：λ：(375～475)nm；λP＝420nm

（2）UV-365探頭：λ：(320～400)nm；λP＝365nm

2、輻照度測量范圍：(0.1～199.9×103) μW/cm2

3、紫外帶外區(qū)雜光：UV420：小于0.02UV365：小于0.02

4、相對示值誤差：±8（相對與 NIM 標準）

5、余弦特性(方向性響應(yīng))誤差：±10

6、線性誤差：±1

7、換檔誤差：±1

8、短期不穩(wěn)定性：±1（開機 30min 后）

9、疲勞特性：衰減量小于2