實驗室高低溫實驗箱容量：

80升內(nèi)箱尺寸（寬*高*深）：400X500X400mm

150升內(nèi)箱尺寸（寬*高*深）：500X600X500mm

225升內(nèi)箱尺寸（寬*高*深）：600X750X500mm

408升內(nèi)箱尺寸（寬*高*深）：600X850X800mm

800升內(nèi)箱尺寸（寬*高*深）：1000X1000X800mm

1000升內(nèi)箱尺寸（寬*高*深）：1000X1000X1000mm

實驗室高低溫實驗箱特點：

1、全新的圓弧造型設計,高質(zhì)感外觀,美觀大方，外箱采用優(yōu)質(zhì)霧面線條不銹鋼板。

2、內(nèi)膽為進口優(yōu)質(zhì)鏡面不銹鋼板。

3、保溫材質(zhì):硬質(zhì)聚胺脂硬PU發(fā)泡膠+高密度玻璃纖維棉.保溫厚度為100mm

4、運風系統(tǒng):采用加長軸電機，耐高低溫之不銹鋼多翼式葉輪,以達強度對流垂直擴散循環(huán).

5、門與箱體之間采用雙層耐高溫之高張性密封條以確保測試區(qū)的密閉

6、高溫高濕試驗箱可程式恒溫恒濕試驗機采用無反作用門把手，操作更容易

7、機器底部采用高品質(zhì)可固定式PU活動輪，附水平腳

8、觀察窗采用多層中空鋼化玻璃,內(nèi)側(cè)膠合片式導電膜（可清楚觀察試驗過程）

9、測試孔(機器左側(cè))50mm,可外接測試電源線或信號線使用

10、周全的安全保護裝置，發(fā)生任何故障時，均由立即由屏幕顯示故障狀態(tài)及切斷電源，確保機器本身,被測產(chǎn)品及使用者安全。

高低溫實驗箱設備符合標準：

GB/T2423.1-2001 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法

GB/T2423.2-2001 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法

GB/T2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗方法  試驗Cab：恒定濕熱試驗

GB2424.1-89     電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 高溫低溫試驗導則

GB/T2324.2-1989.GB/T2423.1-1989.GB/T2423.4-1993等國家標準

高低溫恒濕實驗箱核心功能與應用領域:

核心功能

精確的溫度模擬 高低溫箱恒溫試驗箱的核心功能在于其能夠提供精確的溫度模擬能力。該設備能夠快速穩(wěn)定地達到用戶設定的高溫或低溫，為產(chǎn)品測試提供必要的溫度環(huán)境。它通過高精度的傳感器和控制系統(tǒng)，確保溫度變化的精確度和穩(wěn)定性，滿足嚴格的測試標準。

多功能測試環(huán)境 除了單一的溫度測試，該實驗箱還可以進行濕度、振動等多重環(huán)境因素的模擬，為用戶提供一個綜合的環(huán)境測試解決方案。這種多功能性使得設備能夠適應各種復雜的測試需求，從而廣泛應用于不同領域的產(chǎn)品驗證和研究。

應用領域

電子行業(yè)的溫度測試 在電子行業(yè)中，高低溫箱恒溫試驗箱用于測試電子元件和設備在溫度下的性能和穩(wěn)定性。從半導體芯片到完整的電路板，該設備能夠模擬各種溫度環(huán)境，確保電子產(chǎn)品在實際應用中的可靠性。

材料科學的屬性研究 材料科學家使用高低溫箱恒溫試驗箱來研究不同材料在溫度變化下的物理和化學屬性。這包括材料的熱膨脹、強度變化、以及在溫度下的耐久性，為新材料的開發(fā)和現(xiàn)有材料的性能改進提供數(shù)據(jù)支持。

汽車行業(yè)的部件可靠性驗證 汽車行業(yè)中，高低溫箱恒溫試驗箱對于確保汽車零部件在氣候條件下的性能至關重要。從發(fā)動機部件到電子控制系統(tǒng)，該設備能夠模擬極寒和極熱的工作環(huán)境，幫助汽車制造商提高產(chǎn)品的質(zhì)量標準和用戶滿意度。

選型策略建議推薦用戶優(yōu)先選擇東莞高低溫試驗箱標準機型，以獲得更快的交貨期和更有保障的質(zhì)量。同時，對于有特殊需求的用戶，我們提供定制服務，包括非標準產(chǎn)品或OEM產(chǎn)品制造。

高低溫循環(huán)對電子元件性能的影響研究：

1、研究背景

在現(xiàn)代電子產(chǎn)品的設計和制造過程中，確保電子元件能在各種環(huán)境條件下穩(wěn)定工作至關重要。高低溫循環(huán)測試是評估電子元件耐環(huán)境變化能力的重要手段，對于提高產(chǎn)品可靠性和延長使用壽命具有顯著意義。

2、研究目的

本研究旨在深入探討高低溫循環(huán)條件下電子元件的性能變化，包括電導率、熱穩(wěn)定性、機械應力反應等，以及這些變化對元件長期可靠性的影響。

3、實驗方法

采用高低溫循環(huán)試驗箱對電子元件進行周期性的溫度變化測試。通過設置不同的溫度范圍、循環(huán)頻率和持續(xù)時間，模擬各種環(huán)境條件，記錄元件在循環(huán)過程中的性能參數(shù)變化。

4、研究內(nèi)容

電性能變化：研究溫度循環(huán)對電子元件電導率、電阻、電容等電性能參數(shù)的影響。

熱穩(wěn)定性分析：評估元件在高低溫循環(huán)中的熱膨脹系數(shù)和熱穩(wěn)定性，以及可能引起的熱應力。

機械應力測試：分析溫度變化引起的機械應力對元件結構完整性的影響。

壽命評估：通過加速壽命測試，預測電子元件在實際應用中的使用壽命。

5、研究結果

實驗結果表明，高低溫循環(huán)對電子元件的性能有顯著影響。部分元件在低溫下表現(xiàn)出較高的電阻率，在高溫下則可能出現(xiàn)熱失控現(xiàn)象。機械應力測試揭示了溫度循環(huán)可能導致的微裂紋和結構損傷，影響元件的長期穩(wěn)定性。