德瑞高低溫環(huán)境實驗箱品牌內(nèi)箱容量：

80升內(nèi)箱尺寸（寬*高*深）：400X500X400mm

150升內(nèi)箱尺寸（寬*高*深）：500X600X500mm

225升內(nèi)箱尺寸（寬*高*深）：600X750X500mm

408升內(nèi)箱尺寸（寬*高*深）：600X850X800mm

800升內(nèi)箱尺寸（寬*高*深）：1000X1000X800mm

1000升內(nèi)箱尺寸（寬*高*深）：1000X1000X1000mm

德瑞高低溫環(huán)境實驗箱設(shè)備符合標準：

GB/T 10592-2008  高低溫試驗箱技術(shù)條件標準

GB/T 10586-2006  濕熱試驗箱技術(shù)條件標準

GB/T 2423.1-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分_ 試驗方法 試驗A_  低溫

GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分_ 試驗方法 試驗B_ 高溫

GB/T 2423.3-2016 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗 Ca:恒定濕熱試驗方法

GB/T 2423.4-2016 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗 Db:交變濕熱試驗方法等。

德瑞高低溫環(huán)境實驗箱控制系統(tǒng)及操作畫面：

  1、通過USB下載歷史曲線為BMP圖片格式文件；
  2、把記錄錯誤履歷,提供使用者查閱,全部畫面提供英語、   語；
  3、具有程序修正、清除、預(yù)約、啟動、停、記憶、按鍵鎖定等功能；
  4、具有多種報警功能，故障發(fā)生同時，可通過熒幕故障顯示，消除故障；
  5、大屏幕逼真彩色畫面：TFT LCD（LED 背光） 7英寸TFT真彩VGA（800x480）；
  6、可設(shè)定程序120組，1200段，循環(huán)次數(shù)可達999次，每段時間     大設(shè)定99小時59分；
  7、PV曲線/組曲線：實時表示溫、濕度PV,SV曲線,表示歷史儲存的曲線,表示組曲線及進行狀態(tài)；
  8、人機對話式觸摸屏輸入系統(tǒng)，操作簡單易學，功能強大，并可于LCD畫面上了解程序設(shè)定之曲線及監(jiān)測過程；
  9、提供USB通訊接口可備份/歷史曲線/歷史數(shù)據(jù),使用便捷；還可選配RS485接口，RS232通信接口，可通過PC隨意控制和監(jiān)視；  
  10、畫面保護器功能,程式運行時可以設(shè)定操作條件,一個段次的運行時間（530小時59分）,每段可以設(shè)定待機開關(guān)，定值     大999999小時。 

德瑞高低溫環(huán)境實驗箱品牌使用注意事項

1、環(huán)境要求、溫度與濕度：確保實驗室的環(huán)境溫度和濕度適宜，避免惡劣條件影響設(shè)備性能和測試精度。

2、設(shè)備放置、平穩(wěn)地面：將實驗箱放置在穩(wěn)固、水平的地面上，避免因地面不平造成的設(shè)備震動或結(jié)構(gòu)變形。

3、樣品準備、適當尺寸：確保測試樣品尺寸和數(shù)量適宜，避免過度擁擠影響空氣流通和溫度分布。

4、安全操作、專業(yè)培訓：操作人員需經(jīng)過專業(yè)培訓，熟悉設(shè)備操作規(guī)程和緊急應(yīng)對措施。

5、定期維護、檢查與清潔：定期對設(shè)備進行清潔和檢查，包括制冷系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)和控制系統(tǒng)等關(guān)鍵部件。

6、電源管理、穩(wěn)定供電：確保設(shè)備連接到穩(wěn)定且符合要求的電源，避免電壓波動影響設(shè)備運行。

7、監(jiān)控與記錄、數(shù)據(jù)記錄：使用設(shè)備的數(shù)據(jù)記錄功能，定期監(jiān)控和記錄測試過程中的溫度變化和設(shè)備狀態(tài)。

8、異常處理、即時響應(yīng)：在測試過程中如發(fā)現(xiàn)異常，應(yīng)立即停止測試，按照操作規(guī)程進行故障排查和處理。

9、后續(xù)處理、樣品處理：測試完成后，按照規(guī)定處理測試樣品，避免交叉污染或環(huán)境影響。

10、文檔管理、記錄保存：妥善保存測試記錄和維護日志，以備后續(xù)分析和審計使用。

高低溫測試實驗箱

選型策略建議推薦用戶優(yōu)先選擇東莞高低溫試驗箱標準機型，以獲得更快的交貨期和更有保障的質(zhì)量。同時，對于有特殊需求的用戶，我們提供定制服務(wù)，包括非標準產(chǎn)品或OEM產(chǎn)品制造。

德瑞高低溫環(huán)境實驗箱測試流程詳解

1. 需求分析與計劃制定

在測試前，首先明確測試需求和目標，根據(jù)半導體器件的特性和預(yù)期應(yīng)用場景，制定詳細的測試計劃。這包括確定測試的溫度范圍、溫變速率、測試持續(xù)時間等關(guān)鍵參數(shù)。

2. 設(shè)備與試樣準備

選擇符合測試要求的高低溫環(huán)境實驗箱，并進行必要的設(shè)備檢查和預(yù)熱，確保設(shè)備處于最佳工作狀態(tài)。同時，準備待測試的半導體器件樣品，進行編號和預(yù)處理。

3. 試樣安裝與布局

將半導體器件樣品按照規(guī)定的要求放置在實驗箱內(nèi)，注意樣品間的距離和方向，避免相互干擾，確?？諝饬魍ê蜏囟染鶆蛐?。

4. 參數(shù)設(shè)置與程序輸入

根據(jù)測試計劃，設(shè)置實驗箱的溫度參數(shù)，包括最高溫度、低溫度、升溫速率、降溫速率等。輸入測試程序，確保設(shè)備按照預(yù)定的模式運行。

5. 啟動測試與監(jiān)控

啟動高低溫環(huán)境實驗箱，開始測試程序。在測試過程中，實時監(jiān)控設(shè)備運行狀態(tài)和樣品表現(xiàn)，記錄任何異常情況。

6. 數(shù)據(jù)采集與記錄

使用數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)記錄測試過程中的關(guān)鍵數(shù)據(jù)，包括溫度變化、時間、樣品性能指標等，為后續(xù)分析提供詳實的數(shù)據(jù)支持。

7. 測試結(jié)束與樣品恢復(fù)

測試完成后，按照安全操作規(guī)程關(guān)閉實驗箱，取出樣品，并在室溫下進行恢復(fù)，以減少溫度變化對樣品造成的影響。

8. 結(jié)果分析與報告編制

對采集到的數(shù)據(jù)進行詳細分析，評估半導體器件在不同溫度下的性能表現(xiàn)。根據(jù)分析結(jié)果編制測試報告，提出改進建議或確認樣品性能。

9. 后續(xù)跟蹤與改進

根據(jù)測試報告的反饋，對半導體器件進行必要的改進，并進行后續(xù)的跟蹤測試，以驗證改進措施的有效性。

10. 測試文檔歸檔

將測試計劃、測試數(shù)據(jù)、分析報告等文檔進行歸檔保存，以備未來參考和審計使用。