HAST高溫高速老化試驗(yàn)機(jī)是一種用于加速評(píng)估電子產(chǎn)品可靠性的測(cè)試設(shè)備。它通過(guò)模擬高溫高濕環(huán)境,快速檢測(cè)產(chǎn)品在嚴(yán)苛條件下的性能和壽命。設(shè)備具備智能化操作界面,支持多種測(cè)試模式,確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和安全性。廣泛應(yīng)用于IC芯片、半導(dǎo)體器件等電子行業(yè),幫助制造商優(yōu)化產(chǎn)品質(zhì)量和設(shè)計(jì)。
HAST高溫高速老化試驗(yàn)機(jī)是專為電子元件和材料設(shè)計(jì)的測(cè)試設(shè)備,用于在嚴(yán)苛高溫和高濕條件下評(píng)估其耐久性和可靠性。
溫度控制范圍:設(shè)備能夠提供從+105℃至+162.2℃的精確溫度控制,覆蓋了大多數(shù)電子元件的測(cè)試需求。
濕度控制范圍:相對(duì)濕度(RH)可調(diào)節(jié)范圍為75%至100%,以模擬不同的環(huán)境條件。
壓力控制:設(shè)備能夠產(chǎn)生0.020Mpa至0.392Mpa的表壓力,以模擬不同的壓力環(huán)境。
溫濕度波動(dòng)度:設(shè)備在運(yùn)行過(guò)程中,溫度波動(dòng)控制在±0.3℃以內(nèi),濕度波動(dòng)控制在±2.5%RH以內(nèi),確保測(cè)試條件的穩(wěn)定性。
空間溫度變化:試驗(yàn)箱內(nèi)部的溫度均勻性控制在3.0℃以內(nèi),保證箱內(nèi)各點(diǎn)的溫度一致性。
升溫增壓時(shí)間:設(shè)備從常溫升至+155℃的時(shí)間約為45分鐘,從常壓升至3kg/cm2的壓力時(shí)間約為35分鐘,外部氣源加壓則更短。
內(nèi)膽設(shè)計(jì):采用雙層圓弧設(shè)計(jì),有效防止試驗(yàn)過(guò)程中的結(jié)露滴水,保護(hù)測(cè)試樣品不受意外影響。
控制模式:提供干濕球、不飽和、濕潤(rùn)飽和等三種控制模式,以適應(yīng)不同的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)和要求。
智能化操作:配備7寸彩色觸摸屏控制器,支持USB數(shù)據(jù)下載,RS-485或RS-232通訊接口,便于數(shù)據(jù)記錄和遠(yuǎn)程控制。
安全保護(hù):具備超溫、超壓、干燒、漏電等多種安全保護(hù)功能,確保設(shè)備和操作人員的安全。
箱體材質(zhì):內(nèi)箱采用SUS #316不銹鋼材質(zhì),外箱為冷軋鋼板加雙面靜電噴塑工藝處理,具有良好的耐腐蝕性和美觀性。
保溫材料:使用超細(xì)玻璃棉作為保溫材料,有效降低能耗并保持箱內(nèi)溫度穩(wěn)定。
噪音控制:設(shè)備運(yùn)行時(shí)的噪音控制在60dB以內(nèi),符合實(shí)驗(yàn)室環(huán)境要求。
分辨率:溫度分辨率為0.01℃,濕度分辨率為0.1%RH,壓力分辨率為0.1 kg/cm2,提供高精度的測(cè)試數(shù)據(jù)。
加壓方式:支持鍋爐蒸汽加壓和外部氣體加壓兩種方式,靈活適應(yīng)不同的測(cè)試需求。
BIAS偏壓端子:可選配BIAS偏壓端子,以模擬高溫高濕環(huán)境下的工作電壓條件。
使用條件:設(shè)備適用于環(huán)境溫度+5℃至+35℃,環(huán)境濕度≤85%RH,環(huán)境大氣壓86KPa至106KPa。
電源要求:AC220V 50/60Hz,滿足不同地區(qū)的電源標(biāo)準(zhǔn)。
重量:根據(jù)型號(hào)不同,設(shè)備重量在252KG至358KG之間,便于搬運(yùn)和安裝。
通過(guò)這些詳細(xì)的技術(shù)參數(shù),用戶可以全面了解HAST高溫高速老化試驗(yàn)機(jī)的性能和特點(diǎn),確保設(shè)備能夠滿足其特定的測(cè)試需求。