HAST非飽和試驗(yàn)箱滿足的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)包括但不限于：

• GB/T 2423.40-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cx：未飽和高壓蒸汽恒定濕熱

• IEC 60068-2-66-1994 環(huán)境試驗(yàn) 第2-66部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cx:穩(wěn)態(tài)濕熱(不飽合加壓蒸汽)

• JESD22-A100 循環(huán)溫濕度偏置壽命

• JESD22-A101 THB加速式溫濕度及偏壓測(cè)試

• JESD22-A102 加速水汽抵抗性-無(wú)偏置高壓蒸煮

• JESD22-A108 溫度，偏置電壓，以及工作壽命（IC壽命試驗(yàn)）

• JESD22-A110 高加速溫濕度應(yīng)力試驗(yàn)（HAST）

HAST非飽和試驗(yàn)箱中記錄和分析數(shù)據(jù)通常涉及以下幾個(gè)步驟：

1. 參數(shù)設(shè)置：首先，根據(jù)測(cè)試需求設(shè)置HAST試驗(yàn)箱的溫度、濕度、壓力等參數(shù)。這些參數(shù)需要根據(jù)具體的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)來(lái)設(shè)定，以確保測(cè)試條件能夠模擬出實(shí)際使用環(huán)境的惡劣情況。

2. 樣品放置：將待測(cè)試樣品放入試驗(yàn)箱內(nèi)，并確保樣品之間有足夠的間隔，以免相互影響測(cè)試結(jié)果。同時(shí)，進(jìn)行必要的電氣連接、信號(hào)輸入/輸出連接、監(jiān)控設(shè)備連接等。

3. 啟動(dòng)測(cè)試：關(guān)閉試驗(yàn)箱門(mén)，啟動(dòng)試驗(yàn)。試驗(yàn)箱將按照設(shè)定的參數(shù)開(kāi)始工作，模擬高溫高濕環(huán)境對(duì)樣品的影響。

4. 數(shù)據(jù)監(jiān)測(cè)：在測(cè)試過(guò)程中，使用試驗(yàn)箱內(nèi)的溫度、濕度和壓力傳感器實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)試驗(yàn)條件。這些數(shù)據(jù)對(duì)于評(píng)估產(chǎn)品的性能和可靠性至關(guān)重要。

5. 數(shù)據(jù)記錄：HAST試驗(yàn)箱通常配備有數(shù)據(jù)記錄系統(tǒng)，可以記錄試驗(yàn)過(guò)程中的溫度、濕度、壓力等參數(shù)的變化。一些設(shè)備還支持將數(shù)據(jù)導(dǎo)出為Excel格式，并通過(guò)USB接口進(jìn)行傳輸，以便于分析。

6. 安全監(jiān)控：在測(cè)試過(guò)程中，需要全程檢測(cè)超溫超壓保護(hù)，確保測(cè)試的安全性。一些HAST試驗(yàn)箱還具備緊急壓力釋放功能、手動(dòng)壓力釋放功能和自動(dòng)壓力釋放功能，以確保在異常情況下能夠迅速響應(yīng)。

7. 測(cè)試結(jié)束與數(shù)據(jù)分析：測(cè)試完成后，取出樣品并關(guān)閉試驗(yàn)箱電源。然后，對(duì)收集到的數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，評(píng)估樣品在高溫高濕環(huán)境下的性能變化。分析結(jié)果將為后續(xù)的產(chǎn)品改進(jìn)和質(zhì)量控制提供重要參考。

8. 報(bào)告編寫(xiě)：根據(jù)測(cè)試結(jié)果編寫(xiě)詳細(xì)報(bào)告，總結(jié)產(chǎn)品的性能和可能出現(xiàn)的問(wèn)題。報(bào)告應(yīng)詳細(xì)記錄測(cè)試過(guò)程、結(jié)果及結(jié)論，為后續(xù)產(chǎn)品改進(jìn)提供參考
   

HAST試驗(yàn)箱（Highly Accelerated Stress Test）的工作原理是通過(guò)在試驗(yàn)箱內(nèi)部創(chuàng)造一個(gè)高溫、高濕、高壓的環(huán)境，來(lái)加速濕氣進(jìn)入被測(cè)樣品的過(guò)程，從而加速樣品的老化和失效，以評(píng)估其在高溫高濕環(huán)境下的可靠性和耐久性。以下是HAST試驗(yàn)箱工作的幾個(gè)關(guān)鍵步驟和原理：

加壓：HAST試驗(yàn)箱內(nèi)部設(shè)計(jì)有一個(gè)壓力容器，可以將水加熱至產(chǎn)生蒸汽，形成高壓環(huán)境。這種高壓環(huán)境可以顯著提高水蒸氣的滲透能力。

升溫：試驗(yàn)箱能夠?qū)囟瓤刂圃谝粋€(gè)設(shè)定的范圍內(nèi)（通常在105℃到155℃之間），以模擬高溫環(huán)境對(duì)材料的影響。

加濕：在高溫下，水蒸氣的壓力和含量會(huì)增加，試驗(yàn)箱內(nèi)部的濕度通?？梢钥刂圃?5%到100%R.H的范圍內(nèi)?？梢赃x擇非飽和（75%R.H）或飽和（100%R.H）濕度條件。

滲透：在高溫高壓的環(huán)境下，水蒸氣會(huì)更容易滲透進(jìn)被測(cè)樣品的內(nèi)部，尤其是非密封性的樣品，如塑料封裝的電子元件。

加速老化：由于濕氣的加速滲透，樣品內(nèi)部的腐蝕、氧化、離子遷移等老化過(guò)程會(huì)顯著加速，從而在較短的時(shí)間內(nèi)模擬出長(zhǎng)時(shí)間使用條件下可能出現(xiàn)的失效模式。

監(jiān)測(cè)和控制：HAST試驗(yàn)箱通常配備有精確的溫度、濕度和壓力傳感器，以及相應(yīng)的控制系統(tǒng)，以確保試驗(yàn)條件的穩(wěn)定性和可重復(fù)性。

安全保護(hù)：試驗(yàn)箱設(shè)計(jì)有多重安全保護(hù)措施，如過(guò)溫保護(hù)、過(guò)壓保護(hù)、缺水保護(hù)等，以確保試驗(yàn)過(guò)程的安全。

通過(guò)這種加速老化測(cè)試，HAST試驗(yàn)箱可以在較短的時(shí)間內(nèi)評(píng)估產(chǎn)品在實(shí)際使用中可能需要很長(zhǎng)時(shí)間才會(huì)出現(xiàn)的可靠性問(wèn)題，從而為產(chǎn)品的設(shè)計(jì)改進(jìn)和質(zhì)量控制提供重要依據(jù)