溫度冷熱沖擊試驗(yàn)箱三箱是一種重要的測(cè)試設(shè)備,用于評(píng)估材料在惡劣溫度變化下的性能表現(xiàn)。參照的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)包括GB/T 2423.22、IEC 60068-2-13、IEC 60068-2-14等
。這些標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了溫度變化試驗(yàn)的方法和要求,確保測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)化和一致性。
溫度冷熱沖擊試驗(yàn)箱三箱產(chǎn)品型號(hào)
型號(hào) | DR-H203-100 | DR-H203-150 | DR-H203-225 | DR-H203-500 | DR-H203-800 | DR-H203-1000 |
內(nèi)箱尺寸(WxHxD)mm | 400x500x500 | 500x600x500 | 500x750x600 | 700x800x900 | 1000x1000x800 | 1000x1000x1000 |
溫度范圍 | G:-20℃ ~ +100℃(150℃);Z:-40℃ ~ +100℃(150℃);D:-70℃ ~ +100℃(150℃) |
結(jié)構(gòu) | 三箱式(低溫區(qū)、高溫區(qū)、測(cè)試區(qū)) / 兩箱式(低溫區(qū)、高溫區(qū)、吊籃) |
氣門(mén)裝置 | 強(qiáng)制的空氣裝置氣門(mén) / 吊籃 |
內(nèi)箱材質(zhì) | 鏡面不銹鋼 SUS 304 |
外箱材質(zhì) | 霧面拉絲不銹鋼板 / 冷軋鋼板烤漆 |
測(cè)試架 | 不銹鋼架 |
冷凍系統(tǒng) | 二段式 |
冷卻方式 | 半密閉式雙段壓縮機(jī)(水冷式)/全封閉式雙段壓縮機(jī)(風(fēng)冷式) |
高溫區(qū)溫度 | +60 ℃~ +200 ℃ |
低溫區(qū)溫度 | -10 ℃~ -80 ℃ /-10 ℃~ -70 ℃ |
高溫沖擊溫度范圍 | +60 ℃~ +150℃ |
低溫沖擊溫度范圍 | -10 ℃~ -55 ℃ /-10 ℃~ -65 ℃ |
溫度均勻度 | ± 2 ℃ |
溫度波動(dòng)度 | ± 1.0 ℃ |
高溫沖擊時(shí)間 | Rt ~ +150 ℃ /5min |
低溫沖擊時(shí)間 | Rt ~ -55 ℃ /5min Rt ~ -65 ℃ /5min |
預(yù)熱時(shí)間 | 45min |
預(yù)冷時(shí)間 | 100min |
溫度冷熱沖擊試驗(yàn)箱的設(shè)備性能可以從以下幾個(gè)方面進(jìn)行理解:
溫度控制與范圍:溫度冷熱沖擊試驗(yàn)箱能夠精確控制高低溫度的范圍,通常低溫可達(dá)-70℃,高溫可達(dá)+150℃或更高。
快速溫度變化:設(shè)備能夠在極短的時(shí)間內(nèi)(通常幾秒到幾分鐘)完成溫度的轉(zhuǎn)換,模擬真實(shí)的溫度沖擊環(huán)境。
溫度波動(dòng)度與均勻性:溫度波動(dòng)度通常要求控制在±0.5℃以?xún)?nèi),溫度均勻度在±2℃以?xún)?nèi),確保試驗(yàn)箱內(nèi)各個(gè)位置的樣品都能經(jīng)歷相似的溫度沖擊條件。
安全保護(hù):具備過(guò)溫、過(guò)載、短路等多重安全保護(hù)措施,確保試驗(yàn)過(guò)程的安全性。
數(shù)據(jù)記錄與分析:現(xiàn)代冷熱沖擊試驗(yàn)箱通常配備有數(shù)據(jù)記錄系統(tǒng),可以實(shí)時(shí)記錄試驗(yàn)數(shù)據(jù),便于后續(xù)分析。
控制系統(tǒng):控制器采用的可編程觸摸液晶顯示屏,具有PID參數(shù)自整定功能,能夠自動(dòng)進(jìn)行詳細(xì)的故障顯示和報(bào)警。
結(jié)構(gòu)特性:內(nèi)箱材質(zhì)通常采用1.2mm SUS#304不銹鋼,外箱材質(zhì)采用1.2mm冷軋鋼板,表面噴漆處理,保溫層采用高強(qiáng)度PU發(fā)泡與高密度防火玻璃纖維棉(厚度100mm)。
溫度沖擊范圍與恢復(fù)時(shí)間:溫度沖擊范圍可從-30℃至150℃,溫度恢復(fù)時(shí)間通常在5分鐘以?xún)?nèi)。
切換時(shí)間:兩箱式試驗(yàn)箱的樣品轉(zhuǎn)移時(shí)間通常小于10秒,三箱式試驗(yàn)箱則通過(guò)控制氣體流動(dòng)來(lái)完成溫度沖擊,切換時(shí)間快速。
噪音控制:設(shè)備運(yùn)行時(shí)的噪音控制在65db以?xún)?nèi)。
耐用性和可靠性:設(shè)備采用高強(qiáng)度、高可靠性的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),確保了設(shè)備的高可靠性和使用壽命。
環(huán)保型制冷劑:使用環(huán)保型制冷劑,確保設(shè)備更加符合環(huán)境保護(hù)要求。
這些性能指標(biāo)共同確保了溫度冷熱沖擊試驗(yàn)箱能夠在不同行業(yè)中發(fā)揮重要作用,模擬產(chǎn)品在惡劣溫度條件下的性能變化,從而評(píng)估產(chǎn)品的耐候性和可靠性。
選擇合適的冷熱溫度沖擊試驗(yàn)箱時(shí),需要考慮以下幾個(gè)關(guān)鍵因素:
明確試驗(yàn)需求:
溫度范圍:確定試驗(yàn)所需的溫度范圍,不同的產(chǎn)品或材料測(cè)試可能需要不同的高低溫極值。例如,電子元器件可能需要 -40℃至 150℃的溫度范圍。
沖擊速率:溫度沖擊速率是一個(gè)關(guān)鍵因素??焖俚臏囟茸兓梢愿行У啬M極-端環(huán)境下的熱應(yīng)力。一般來(lái)說(shuō),有 3℃/min、5℃/min、10℃/min 等不同速率可供選擇。
試驗(yàn)艙尺寸:根據(jù)要測(cè)試的樣品大小和數(shù)量來(lái)選擇合適的試驗(yàn)艙尺寸。
考慮設(shè)備性能:
溫度均勻性:優(yōu)質(zhì)的溫度沖擊試驗(yàn)箱應(yīng)在整個(gè)試驗(yàn)艙內(nèi)保持良好的溫度均勻性。通常要求溫度均勻性在 ±2℃以?xún)?nèi)。
溫度控制精度:精確的溫度控制是確保試驗(yàn)有效性的關(guān)鍵??刂凭纫话阋笤?±0.5℃左右。
恢復(fù)時(shí)間:恢復(fù)時(shí)間是指試驗(yàn)箱從一個(gè)溫度狀態(tài)轉(zhuǎn)換到另一個(gè)溫度狀態(tài)后,重新達(dá)到穩(wěn)定溫度所需的時(shí)間。較短的恢復(fù)時(shí)間意味著試驗(yàn)效率更高。
關(guān)注設(shè)備質(zhì)量與可靠性:
品牌與口碑:選擇品牌的溫度沖擊試驗(yàn)箱往往更有保障??梢酝ㄟ^(guò)查閱行業(yè)報(bào)告、咨詢(xún)同行或在相關(guān)的技術(shù)論壇上了解不同品牌的口碑。
制造工藝:檢查設(shè)備的制造工藝,包括外殼材質(zhì)、內(nèi)部結(jié)構(gòu)、焊接質(zhì)量等。優(yōu)質(zhì)的制造工藝可以保證試驗(yàn)箱的密封性、穩(wěn)定性和耐用性。
認(rèn)證與標(biāo)準(zhǔn):用戶(hù)選擇試驗(yàn)箱時(shí),通常需考慮到的主要指標(biāo)有試驗(yàn)箱容積、試驗(yàn)溫度范圍、溫度偏差、溫度波動(dòng)度、溫度均勻度、溫度變化速率等指標(biāo)。需根據(jù)滿(mǎn)足試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行相應(yīng)的調(diào)整。
符合標(biāo)準(zhǔn):
其他性能特點(diǎn):
氣動(dòng)式閥門(mén):方便開(kāi)啟,保證氣密及斷熱保護(hù)。
溫度控制精度高:全部采用PID自動(dòng)演算控制。
預(yù)約起動(dòng)功能:可以根據(jù)需要設(shè)置試驗(yàn)的開(kāi)始時(shí)間。
訂購(gòu)溫度冷熱沖擊試驗(yàn)箱三箱的流程通常包括以下幾個(gè)步驟:
需求分析:
市場(chǎng)調(diào)研:
技術(shù)規(guī)格確認(rèn):
預(yù)算制定:
供應(yīng)商選擇:
定制需求溝通:
簽訂合同:
設(shè)備驗(yàn)收:
安裝調(diào)試:
操作培訓(xùn):
售后服務(wù):
通過(guò)以上步驟,可以確保訂購(gòu)到適合自己需求的冷熱溫度沖擊試驗(yàn)箱,并保證設(shè)備的正常使用和維護(hù)。
GB/T2423.1-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫》是中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),等同采用IEC 60068-2-1:2007國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)。該標(biāo)準(zhǔn)主要圍繞電工電子產(chǎn)品在低溫環(huán)境下的性能評(píng)估展開(kāi),具體內(nèi)容如下:
標(biāo)準(zhǔn)概述:
試驗(yàn)?zāi)康?/span>:
試驗(yàn)范圍:
試驗(yàn)方法:
試驗(yàn)條件:
試驗(yàn)設(shè)備:
試驗(yàn)程序:
試驗(yàn)效果評(píng)定:
其他相關(guān)內(nèi)容:
通過(guò)遵循GB/T2423.1-2008標(biāo)準(zhǔn),可以全面評(píng)估電工電子產(chǎn)品在低溫環(huán)境下的性能,為產(chǎn)品的設(shè)計(jì)、改進(jìn)和質(zhì)量控制提供重要依據(jù)。