業(yè)務(wù)挑戰(zhàn)
電子元器件失效的原因是什么？
電子元器件對(duì)環(huán)境的耐受性能如何？
如何保證電子元器件的可靠性？
服務(wù)內(nèi)容
1.適用測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 2423/IEC 60068系列電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)；
MIL-STD-883K微電子器件試驗(yàn)方法和程序；
MIL-STD-202美軍標(biāo)電子及電氣元件測(cè)試方法；
GJB 150系列裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法；
GJB 360B電子及電氣元件試驗(yàn)方法；
GJB 548B微電子器件試驗(yàn)方法和程序；
GJB 4027A電子元器件破壞性物理分析方法；
JESS 22系列環(huán)境可靠性測(cè)試；
J-STD 002E元器件引線、端子、焊片、接線柱和導(dǎo)線的可焊性測(cè)試；
J-STD 020E非氣密性固體表面貼裝器件的濕熱敏感等級(jí)；
J-STD 035非氣密性封裝電子元器件的聲學(xué)顯微鏡掃描等。
2.適用產(chǎn)品范圍
集成電路IC、晶體管、MOS管、電阻、電容、電感、LED、光伏元件、機(jī)電元件、傳感器等。
3.常規(guī)樣品要求
請(qǐng)聯(lián)系我們的業(yè)務(wù)或客服，以具體標(biāo)準(zhǔn)為準(zhǔn)。
4.檢測(cè)項(xiàng)目
| 主要測(cè)試項(xiàng)目 |
| X-ray透視檢查 | 濕熱敏感等級(jí) |
| SEM掃描電鏡 | XRD測(cè)試 |
| 超聲波顯微掃描 | PCT/HAST高加速應(yīng)力試驗(yàn) |
| 微探針應(yīng)用 | 高溫 |
| HTOL/LTOL高/低溫操作壽命 | 溫度循環(huán) |
| THB溫濕度偏壓 | Reflow回流焊 |
| LCR電感電容電阻量測(cè) | 溫濕度 |
| I-V曲線量測(cè) | 氣態(tài)冷熱沖擊 |
| 切片分析 | 液態(tài)冷熱沖擊 |
| 開(kāi)封 | 絕緣電阻 |
| 引線鍵合強(qiáng)度 | 耐電壓 |
| 可焊性 | 壽命 |
| 耐焊接熱 | 機(jī)械振動(dòng) |
| 金屬耐溶解性 | 機(jī)械沖擊 |
解決方案
CTI華測(cè)檢測(cè)提供全面的可靠性測(cè)試一站式解決方案，包括：
環(huán)境測(cè)試
可靠性測(cè)試
可靠性設(shè)計(jì)
可靠性分析
產(chǎn)品評(píng)估
可靠性培訓(xùn)及咨詢
我們的優(yōu)勢(shì)
擁有眾多*儀器設(shè)備并通過(guò)CMA/CNAS資質(zhì)認(rèn)可，測(cè)試數(shù)據(jù)準(zhǔn)確可靠，檢測(cè)報(bào)告具有國(guó)際公信力。
科學(xué)的實(shí)驗(yàn)室信息管理系統(tǒng)，保障每個(gè)服務(wù)環(huán)節(jié)的高效運(yùn)轉(zhuǎn)。
技術(shù)專家團(tuán)隊(duì)實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)豐富，可提供專業(yè)、迅速、全面的一站式服務(wù)。
服務(wù)網(wǎng)絡(luò)遍布，眾多合作實(shí)驗(yàn)室。
服務(wù)流程
咨詢客服→確認(rèn)測(cè)試方案→填寫(xiě)申請(qǐng)表→寄送樣品→支付測(cè)試費(fèi)用→測(cè)試→發(fā)送報(bào)告和發(fā)票
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