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片劑硬度測試儀

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產(chǎn)品簡介

1. 片劑硬度測試儀/片劑壓碎硬度計(jì)型號:MHY-YD3 片劑硬度測試儀是用于測量片劑的壓碎硬度

詳細(xì)介紹

1. 片劑硬度測試儀/片劑壓碎硬度計(jì) 型號:MHY-YD3

片劑硬度測試儀是用于測量片劑的壓碎硬度。
適用標(biāo)準(zhǔn)：JB/T20104-2007
技術(shù)指標(biāo):
△? 硬度測試范圍：2-200N? ???可定制到50 KG(500N)

△? 分辨率：?
△? 硬度測量精度：量程±%
△? 片劑測試直徑：2-40mm
△? 重復(fù)測量誤差：±1%
△? 每組測試片數(shù)：≤100片
△? 度量單位: 牛頓 N
????????????????????? 公斤力? Kgf? (1Kgf=)
△? 接口：標(biāo)準(zhǔn)串行打印接口，自帶微打。
△? 外形尺寸：長*寬*高? 500mm*400mm*160mm
片劑硬度測量儀主要特點(diǎn):
①? 高精度壓力傳感器，保證測試的精度和重現(xiàn)性。
②? 顯示選用高清晰度液晶顯示屏，顯示內(nèi)容豐富，用戶可根據(jù)屏幕提示享受智能化操作，每一個(gè)操作過程均給出漢字提示和量化指標(biāo)。
③? 測量方式可選: 手動(dòng)單片/自動(dòng)連續(xù) 。
④? 系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)自動(dòng)壓片、自動(dòng)顯示、自動(dòng)鎖存、自動(dòng)復(fù)位、自動(dòng)循環(huán)測試、自動(dòng)線性誤差修正、自動(dòng)故障診斷。
⑤? 的數(shù)據(jù)處理能力，可對試驗(yàn)結(jié)果進(jìn)行統(tǒng)計(jì)、分析、打印、顯示?？蔀槟峤粶y試樣本的值、最小值、標(biāo)準(zhǔn)偏差和變化范圍的報(bào)告。
⑥? 自動(dòng)計(jì)算退片行程，壓縮您的測試占空時(shí)間。
⑦? 度量單位一鍵轉(zhuǎn)換（牛頓-公斤）。
⑧? 新型前換紙微型打印機(jī)。

2. 手持式四探針測試儀/四探針檢測儀型號:MHY-3

概述
MHY-3型手持式四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國標(biāo)準(zhǔn)。
儀器成套組成：由MHY-3主機(jī)、選配的四探針探頭等二部分組成，也可加配測試臺。
儀器所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用輕觸按鍵輸入；具有零位、滿度自校功能；手動(dòng)/自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程可選；測試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。本測試儀采用可充電電池供電，適合手持式變動(dòng)場合操作使用！
探頭選配：根據(jù)不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜（ITO膜）或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻進(jìn)行測量。配專用探頭，也可測試電池極片等箔上涂層電阻率方阻。
詳見《四探針探頭特點(diǎn)與選型參考》點(diǎn)擊進(jìn)入
儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、結(jié)構(gòu)緊湊、使用簡便等特點(diǎn)。
儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、器件廠、科研單位、高等院校對導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類半導(dǎo)體材料的手持式導(dǎo)電性能的測試。