馬爾文 Zetasizer系列納米粒度電位儀在被廣泛應(yīng)用于納米顆粒、膠體及蛋白質(zhì)尺寸、zeta電位測量及分子表征。Zetasizer 系列儀器使用動態(tài)光散射技術(shù)測量自納米級以下至幾微米的顆粒與分子粒度，使用電泳光散射技術(shù)測量電動電勢及電泳遷移率，并使用靜態(tài)光散射技術(shù)測量分子量。

詳細介紹

馬爾文 Zetasizer系列納米粒度電位儀在被廣泛應(yīng)用于納米顆粒、膠體及蛋白質(zhì)尺寸、zeta電位測量及分子表征。Zetasizer 系列儀器使用動態(tài)光散射技術(shù)測量自納米級以下至幾微米的顆粒與分子粒度，使用電泳光散射技術(shù)測量電動電勢及電泳遷移率，并使用靜態(tài)光散射技術(shù)測量分子量。 Zetasizer 系統(tǒng)提供了一系列型號，包括全新的 Zetasizer Pro 和 Ultra。這兩種系統(tǒng)擁有*的易用性和靈活性，以及強大的用戶指導和新穎的測量技術(shù)（例如 MADLS® 和顆粒濃度）。
馬爾文 Zetasizer系列納米粒度電位儀在被廣泛應(yīng)用于納米顆粒、膠體及蛋白質(zhì)尺寸、zeta電位測量及分子表征。
Zetasizer APS精度zui高的自動化蛋白質(zhì)粒度測量
Zetasizer µV可添加至任何SEC（尺寸排阻色譜）系統(tǒng)的模塊化粒度及分子量檢測器。
Zetasizer WT zata 電位的在線測量 - 控制您的混凝程序!
Zetasizer AT使用動態(tài)光散射在線測量粒度
Zetasizer 系列分為高性能級與標準級兩類系統(tǒng)，包含粒度分析儀、zeta 電位分析儀、分子量分析儀、蛋白質(zhì)遷移率及微觀流變學測量組合。對應(yīng)于您應(yīng)用及預(yù)算要求，從粒度小于一納米的顆粒/分子到幾微米的顆粒。此類系統(tǒng)采用動態(tài)光散射法測量粒度及微流變；采用電泳光散射法測量ZETA電位及電泳遷移率；采用靜態(tài)光散射法測量分子量。此外，該系統(tǒng)還可在流量配置中使用，與GPC/SEC系統(tǒng)連接，作為色譜粒度檢測器使用。
Zetasizer APS將20µL的樣品從各個孔轉(zhuǎn)移至精密的石英流動池中進行測量。樣品池環(huán)境得到了優(yōu)化，使溫度控制與光學清晰度更為精確，從而保證了最準確的測量結(jié)果。這意味著，可使用任何行業(yè)標準型一次性或可重復使用型孔板，而不用擔心影響測量結(jié)果的孔板透明性或擦痕。
Zetasizer µV是一種高靈敏度雙功能光散射檢測器。它可作為PALS檢測器與任何GPC/SEC系統(tǒng)配合使用（包括Viscotek），得出粒度信息（通過DLS）和分子量信息（通過SLS）。另外，在試管模式中，它適合檢測聚集物和通過DLS監(jiān)測聚集物的形成。 Zetasizer µV可通過一個8µl 的石英流通樣品池和標準色譜管連接至任何GPC/SEC系統(tǒng)和濃度檢測器。這樣，就可以測量粒度、分子量、聚集與結(jié)合情況（與另一個濃度檢測器配合使用時）。在試管模式中，只需從設(shè)備上卸下流動池并插入盛有樣品的標準試管即可批量測量顆粒和分子尺寸（通過DLS）。
Zetasizer WT 將 Malvern Panalytical 行業(yè)*的電泳光散射技術(shù)與二十年內(nèi)累積的在線測量專業(yè)知識相結(jié)合，推出一款在線 zeta 電位分析儀，水處理廠使用。工作不再憑猜測 - 精確而可靠的 [mV] 結(jié)果，提供精準的投藥控制范圍。在水源水質(zhì)變化引起過濾問題前即對變化作出響應(yīng)！盡量減少化學品用量，形成穩(wěn)定絮凝。不再需要過量投藥！
Zetasizer Ultra 綜合了功能zui強大的 DLS 與 ELS 系統(tǒng)，它采用了非侵入背散射 (NIBS®) 和的多角動態(tài)光散射 (MADLS) 技術(shù)來測量顆粒與分子粒度。 NIBS 的多用性和靈敏度可測量廣泛的濃度范圍，而 MADLS 則能讓您在這些關(guān)鍵測量當中更精細地了解樣品粒度分布。MADLS 的擴展能夠直接分析顆粒濃度。顆粒濃度的測量無需校準，適合于廣泛的材料，無需或只需極少稀釋，并且使用快捷，這一切都使其成為一種理想的篩選技術(shù)。這是 Zetasizer Ultra 的一項功能，甚至可以運用于以前非常難測量的病毒和 VLP 等樣品。Zetasizer Ultra 還利用 M3-PALS 技術(shù)提供了靈敏度zui高的電動電勢和電泳遷移率測量。我們具有性價比的一次性折疊毛細管樣品池允許使用我們的zhuan利擴散障礙法在極低樣品量的情況下進行測量，并且不會產(chǎn)生直接樣品電極接觸。此類測量提供的信息可以地指出樣品穩(wěn)定性以及/或者聚集傾向。增加的恒流模式可在高導電性介質(zhì)中測量電泳遷移率和電動電勢，從而減少由于較高離子濃度下的電極極化而出現(xiàn)的錯誤。